材料X射線(xiàn)分析技術(shù)

前言
第1章 晶體學(xué)基礎(chǔ)
1.1 晶體及其基本性質(zhì)
1.1.1 晶體的概念
1.1.2 空間點(diǎn)陣的四要素
1.1.3 布拉維陣胞
1.2 晶向、晶面及晶帶
1.2.1 晶向及其表征
1.2.2 晶面及其表征
1.2.3 晶帶及其表征
1.3 晶體的投影
1.3.1 球面投影與極射赤面投影
1.3.2 極式網(wǎng)與烏氏網(wǎng)
1.3.3 晶帶的極射赤面投影
1.3.4 標(biāo)準(zhǔn)極射赤面投影圖
1.4 正點(diǎn)陣與倒易點(diǎn)陣
1.4.1 正點(diǎn)陣
1.4.2 倒易點(diǎn)陣
1.4.3 正倒空間之間的關(guān)系
1.4.4 倒易矢量的基本性質(zhì)
1.4.5 晶帶定律
1.4.6 廣義晶帶定律
本章小結(jié)
思考題
第2章 X射線(xiàn)的物理基礎(chǔ)
2.1 X射線(xiàn)的性質(zhì)
2.1.1 X射線(xiàn)的產(chǎn)生
2.1.2 X射線(xiàn)的本質(zhì)
2.2 X射線(xiàn)譜
2.2.1 X射線(xiàn)連續(xù)譜
2.2.2 X射線(xiàn)特征譜
2.3 X射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用
2.3.1 X射線(xiàn)的散射
2.3.2 X射線(xiàn)的吸收
2.3.3 吸收限的作用
本章小結(jié)
思考題
第3章 X射線(xiàn)的衍射原理
3.1 X射線(xiàn)的衍射方向
3.1.1 勞厄方程
3.1.2 布拉格方程
3.1.3 布拉格方程的討論
3.1.4 衍射矢量方程
3.1.5 布拉格方程的埃瓦爾德圖解
3.1.6 布拉格方程的應(yīng)用
3.1.7 常見(jiàn)的衍射方法
3.2 X射線(xiàn)的衍射強(qiáng)度
3.2.1 單電子對(duì)X射線(xiàn)的散射
3.2.2 單原子對(duì)X射線(xiàn)的散射
3.2.3 單胞對(duì)X射線(xiàn)的散射
3.2.4 單晶體的散射與干涉函數(shù)
3.2.5 單相多晶體的衍射強(qiáng)度
3.2.6 影響單相多晶體衍射強(qiáng)度的其他因子
本章小結(jié)
思考題
第4章 X射線(xiàn)的物相分析
4.1 X射線(xiàn)衍射儀
4.1.1 測(cè)角儀
4.1.2 計(jì)數(shù)器
4.1.3 計(jì)數(shù)電路
4.1.4 X射線(xiàn)衍射儀的常規(guī)測(cè)量
4.2 X射線(xiàn)物相分析原理
4.2.1 物相的定性分析
4.2.2 物相的定量分析
本章小結(jié)
思考題
第5章 晶粒尺寸與多晶體內(nèi)應(yīng)力的測(cè)量
5.1 晶粒尺寸的測(cè)量
5.1.1 晶粒細(xì)化的衍射效應(yīng)
5.1.2 謝樂(lè)公式
5.2 多晶體內(nèi)應(yīng)力的測(cè)量
5.2.1 多晶體內(nèi)應(yīng)力的產(chǎn)生、分類(lèi)及其衍射效應(yīng)
5.2.2 多晶體宏觀(guān)應(yīng)力的測(cè)量原理
5.2.3 多晶體宏觀(guān)應(yīng)力的測(cè)量方法
5.2.4 多晶體宏觀(guān)應(yīng)力常數(shù)K的確定
……
第6章 單晶體的結(jié)構(gòu)、取向與宏觀(guān)殘余應(yīng)力分析
第7章 織構(gòu)分析
第8章 X射線(xiàn)小角散射與掠入射衍射分析
第9章 位錯(cuò)分析
0章 層錯(cuò)分析
1章 非晶分析
2章 成像分析
3章 成分分析
4章 點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)量與熱處理分析
附錄