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片上系統(tǒng)測試設計與優(yōu)化

片上系統(tǒng)測試設計與優(yōu)化

定　價：￥88.00

作　者： （瑞典）埃里克·拉森著；孫仁杰譯
出版社： 科學出版社
叢編項：
標　簽： 暫缺

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ISBN： 9787030769183 出版時間： 2023-11-01 包裝： 平裝膠訂
開本： 16開 頁數(shù)： 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書旨在討論片上系統(tǒng)（SoC）測試的相關問題，包括建模以及片上系統(tǒng)測試解決方案的設計和優(yōu)化。需要測試的系統(tǒng)越來越復雜，測試數(shù)據(jù)量不斷增加，如何組織測試，即測試調(diào)度變得越來越重要。本書主要站在系統(tǒng)級的角度闡明模塊化SoC測試領域的諸多問題?！禕R》本書由三部分組成，在概述經(jīng)典測試方法的基礎上，介紹測試大型、模塊化和異構SoC面臨的挑戰(zhàn)和困難，并詳細介紹作者團隊為克服上述困難所做的研究工作。

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