ASIC物理設(shè)計(jì)要點(diǎn)

目錄第1章 庫 11.1 標(biāo)準(zhǔn)單元 21.2 晶體管尺寸 101.3 輸入/輸出PAD 131.4 庫參數(shù)化 191.5 總結(jié) 25參考文獻(xiàn) 27第2章 布局規(guī)劃 292.1 技術(shù)文件 302.2 電路描述 322.3 設(shè)計(jì)約束 352.4 設(shè)計(jì)規(guī)劃 372.5 PAD布局 392.6 電源規(guī)劃 422.7 宏模塊布局 442.8 時(shí)鐘規(guī)劃 482.9 總結(jié) 50參考文獻(xiàn) 52第3章 布局 533.1 全局布局 543.2 局部布局 603.3 時(shí)鐘樹綜合 663.4 功耗分析 733.5 總結(jié) 75參考文獻(xiàn) 77第4章 布線 794.1 特殊布線 804.2 全局布線 814.3 詳細(xì)布線 874.4 寄生參數(shù)提取 924.5 總結(jié) 104參考文獻(xiàn) 106第5章 驗(yàn)證 1075.1 功能驗(yàn)證 1085.2 時(shí)序驗(yàn)證 1105.3 物理驗(yàn)證 1255.4 總結(jié) 128參考文獻(xiàn) 130第6章 測試 1316.1 功能測試 1336.2 掃描測試 1366.3 邊界掃描測試 1386.4 故障測試 1406.5 參數(shù)測試 1416.6 電流和極低電壓測試 1426.7 晶圓驗(yàn)收測試 1446.8 存儲(chǔ)器內(nèi)建自測試 1466.9 并聯(lián)模塊測試 1486.10 總結(jié) 148參考文獻(xiàn) 151