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內(nèi)容簡介

　　《ASIC物理設(shè)計要點》旨在闡述ASIC物理設(shè)計所需的基本步驟，方便讀者了解ASIC設(shè)計的基本思想?！禔SIC物理設(shè)計要點》以行業(yè)通用ASIC物理設(shè)計流程順序進行編排，從ASIC庫的一般概念開始，依次介紹布局、布線、驗證及測試，涵蓋的主題包括基本標準單元設(shè)計、晶體管尺寸和布局風格、設(shè)計約束和時鐘規(guī)劃、用于布局的算法、時鐘樹綜合、用于全局和詳細布線的算法、寄生參數(shù)提取、功能驗證、時序驗證、物理驗證、并聯(lián)模塊測試等。與直接闡述深層次的技術(shù)不同，《ASIC物理設(shè)計要點》重點放在簡短、清晰的描述上，抓住物理設(shè)計的本質(zhì)，向讀者介紹物理設(shè)計工程的挑戰(zhàn)性和多樣化領(lǐng)域。

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暫缺《ASIC物理設(shè)計要點》作者簡介

圖書目錄

目錄第1章庫 11.1 標準單元 21.2 晶體管尺寸 101.3 輸入/輸出PAD 131.4 庫參數(shù)化 191.5 總結(jié) 25參考文獻 27第2章布局規(guī)劃 292.1 技術(shù)文件 302.2 電路描述 322.3 設(shè)計約束 352.4 設(shè)計規(guī)劃 372.5 PAD布局 392.6 電源規(guī)劃 422.7 宏模塊布局 442.8 時鐘規(guī)劃 482.9 總結(jié) 50參考文獻 52第3章布局 533.1 全局布局 543.2 局部布局 603.3 時鐘樹綜合 663.4 功耗分析 733.5 總結(jié) 75參考文獻 77第4章布線 794.1 特殊布線 804.2 全局布線 814.3 詳細布線 874.4 寄生參數(shù)提取 924.5 總結(jié) 104參考文獻 106第5章驗證 1075.1 功能驗證 1085.2 時序驗證 1105.3 物理驗證 1255.4 總結(jié) 128參考文獻 130第6章測試 1316.1 功能測試 1336.2 掃描測試 1366.3 邊界掃描測試 1386.4 故障測試 1406.5 參數(shù)測試 1416.6 電流和極低電壓測試 1426.7 晶圓驗收測試 1446.8 存儲器內(nèi)建自測試 1466.9 并聯(lián)模塊測試 1486.10 總結(jié) 148參考文獻 151