中子科學(xué)數(shù)據(jù)手冊(cè)（原書(shū)第二版）

目錄
譯者序
原書(shū)序
原書(shū)前言
第1章中子性質(zhì)1
1.1中子散射長(zhǎng)度1
1.1.1簡(jiǎn)介1
1.1.2中子的性質(zhì)2
1.1.3散射長(zhǎng)度2
1.1.4測(cè)量方法5
1.1.5相干散射長(zhǎng)度和熱截面數(shù)據(jù)6
1.2中子及其基本相互作用26
1.2.1簡(jiǎn)介26
1.2.2引力相互作用27
1.2.3電磁相互作用28
1.2.4弱相互作用29
1.2.5強(qiáng)相互作用31
第2章中子散射36
2.1小角散射36
2.1.1簡(jiǎn)介36
2.1.2小角度散射原理36
2.1.3散射截面和強(qiáng)度37
2.1.4背景校正39
2.1.5建模41
2.2反射法45
2.2.1簡(jiǎn)介45
2.2.2厚襯底的反射率45
2.2.3吸收性50
2.2.4磁性材料50
2.2.5粗糙度和相互擴(kuò)散52
2.2.6實(shí)驗(yàn)技術(shù)53
2.2.7ILL儀器55
2.3飛行時(shí)間中子衍射57
2.3.1簡(jiǎn)介57
2.3.2分辨率60
2.3.3Q范圍61
2.3.4粉末衍射61
2.3.5單晶衍射62
2.3.6來(lái)自無(wú)序材料的衍射63
2.3.7小角中子散射63
2.3.8中子反射率64
2.3.9樣品環(huán)境65
2.3.10中子應(yīng)變掃描66
2.3.11更多信息66
2.4極化中子散射66
2.4.1簡(jiǎn)介66
2.4.2基本方程67
2.4.3極化中子技術(shù)69
2.5磁性形狀因子74
2.6飛行時(shí)間非彈性中子散射89
2.6.1簡(jiǎn)介89
2.6.2(Q，ω)空間的可訪問(wèn)區(qū)域90
2.6.3通用設(shè)備91
2.6.4斬波光譜儀上的單晶實(shí)驗(yàn)93
2.6.5間接幾何光譜儀94
2.6.6單色儀97
2.7三軸譜儀98
2.7.1技術(shù)原理98
2.7.2TAS解析函數(shù)101
2.7.3TAS實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)備和優(yōu)化102
2.7.4數(shù)據(jù)處理103
2.7.5虛假信號(hào)104
2.8中子自旋回波的基礎(chǔ)107
2.8.1簡(jiǎn)介107
2.8.2基礎(chǔ)107
2.8.3安裝實(shí)行109
2.8.4要素110
2.8.5測(cè)量順序115
2.8.6信號(hào)與背景117
2.8.7NSE與標(biāo)準(zhǔn)無(wú)彈性?xún)x器118
2.8.8變形120
2.8.9磁散射122
2.8.10有用的數(shù)字125
2.9反應(yīng)堆中子衍射126
2.9.1簡(jiǎn)介126
2.9.2現(xiàn)代基于反應(yīng)堆的衍射儀的設(shè)計(jì)126
2.9.3衍射儀中的分辨率函數(shù)132
2.9.4來(lái)自積分強(qiáng)度的結(jié)構(gòu)振幅135
2.9.5樣品環(huán)境中倒易空間的可訪問(wèn)區(qū)域139
第3章技術(shù)142
3.1中子的產(chǎn)生142
3.1.1中子的產(chǎn)生142
3.1.2現(xiàn)代中子源152
3.2中子光學(xué)160
3.2.1簡(jiǎn)介160
3.2.2準(zhǔn)直儀160
3.2.3晶體單色儀161
3.2.4鏡面反射裝置168
3.3熱中子探測(cè)器196
3.3.1引言196
3.3.2吸收定律198
3.3.3中子探測(cè)器200
3.3.4氣體探測(cè)器202
3.3.5閃爍體探測(cè)器207
3.3.6箔探測(cè)器210
3.3.7其他內(nèi)部探測(cè)器212
第4章活性與屏蔽215
4.1元素活化表215
4.2輻射屏蔽219
4.2.1光子的屏蔽219
4.2.2中子的屏蔽221
第5章附錄223
5.1放射性和輻射防護(hù)223
5.2物理常數(shù)225
5.3元素的物理性質(zhì)228
免責(zé)聲明233