芯片驗(yàn)證調(diào)試手冊(cè)：驗(yàn)證疑難點(diǎn)工作錦囊

　　資深芯片驗(yàn)證專(zhuān)家劉斌（路桑）圍繞目前芯片功能驗(yàn)證的主流方法—?jiǎng)討B(tài)仿真面臨的日常問(wèn)題展開(kāi)分析和討論。根據(jù)驗(yàn)證工程師在仿真工作中容易遇到的技術(shù)疑難點(diǎn)，本書(shū)內(nèi)容在邏輯上分為 SystemVerilog疑難點(diǎn)、UVM 疑難點(diǎn)和 Testbench 疑難點(diǎn)三部分。作者精心收集了上百個(gè)問(wèn)題，給出翔實(shí)的參考用例，指導(dǎo)讀者解決實(shí)際問(wèn)題。在這本實(shí)踐性很強(qiáng)的書(shū)中，作者期望能夠?qū)⒆髡吲c諸多工程師基于常見(jiàn)問(wèn)題的交流進(jìn)行總結(jié)，以易讀易用的組織結(jié)構(gòu)呈現(xiàn)給讀者，目的是幫助芯片驗(yàn)證工程師更有效地處理技術(shù)疑難點(diǎn)，加快芯片驗(yàn)證的調(diào)試過(guò)程。

　　劉斌（路桑），畢業(yè)于西安交通大學(xué)微電子專(zhuān)業(yè)，瑞典皇家理工學(xué)院芯片設(shè)計(jì)專(zhuān)業(yè)碩士。擁有超過(guò)50，000名驗(yàn)證從業(yè)訂閱者的路科驗(yàn)證創(chuàng)始人，主持國(guó)內(nèi)前沿的芯片驗(yàn)證架構(gòu)規(guī)劃和方法學(xué)研究，擔(dān)任過(guò)數(shù)款十億門(mén)級(jí)通信芯片的驗(yàn)證經(jīng)理，目前獨(dú)立從事芯片驗(yàn)證技術(shù)咨詢(xún)。同時(shí)在西安電子科技大學(xué)長(zhǎng)期客座授課，以及開(kāi)展芯片驗(yàn)證職業(yè)在線(xiàn)教育為業(yè)界輸送大量人才。著有《芯片驗(yàn)證漫游指南》。可通過(guò)bin.liu@rockeric.com與作者取得聯(lián)系。