近代物理實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)

1 量子理論基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)
1.1 黑體輻射實(shí)驗(yàn)
1.1.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
1.1.2 簡(jiǎn)要原理
1.1.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.1.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.1.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
1.2 單光子計(jì)數(shù)實(shí)驗(yàn)
1.2.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
1.2.2 簡(jiǎn)要原理
1.2.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.2.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.2.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
1.3 弗蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)
1.3.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
1.3.2 簡(jiǎn)要原理
1.3.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.3.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.3.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
1.4 塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)
1.4.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
1.4.2 簡(jiǎn)要原理
1.4.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.4.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.4.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
1.4.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
1.5 電子自旋共振實(shí)驗(yàn)
1.5.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
1.5.2 簡(jiǎn)要原理
1.5.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.5.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.5.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.5.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
1.6 光泵磁共振實(shí)驗(yàn)
1.6.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
1.6.2 簡(jiǎn)要原理
1.6.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.6.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.6.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.6.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
2 微波物理與光電探測(cè)實(shí)驗(yàn)
2.1 微波參數(shù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)
2.1.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
2.1.2 簡(jiǎn)要原理
2.1.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
2.1.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
2.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
2.1.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
2.2 微波布拉格衍射實(shí)驗(yàn)
2.2.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
2.2.2 簡(jiǎn)要原理
2.2.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
2.2.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
2.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
2.2.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
2.3 光電二極管光譜響應(yīng)度測(cè)量實(shí)驗(yàn)
2.3.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
2.3.2 簡(jiǎn)要原理
2.3.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
2.3.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
2.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
2.3.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
3 半導(dǎo)體物理實(shí)驗(yàn)
3.1 X射線衍射實(shí)驗(yàn)
3.1.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
3.1.2 簡(jiǎn)要原理
3.1.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
3.1.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
3.1.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
3.1.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
3.2 半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)量實(shí)驗(yàn)
3.2.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
3.2.2 簡(jiǎn)要原理
3.2.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
3.2.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
3.2.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
3.2.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
3.3 少子壽命測(cè)量實(shí)驗(yàn)
3.3.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
3.3.2 簡(jiǎn)要原理
3.3.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
3.3.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
3.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
3.3.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
4 信息光學(xué)實(shí)驗(yàn)
4.1 全息光柵制作實(shí)驗(yàn)
4.1.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
4.1.2 簡(jiǎn)要原理
4.1.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
4.1.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
4.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
4.1.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
4.2 阿貝成像原理和空間濾波實(shí)驗(yàn)
4.2.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
4.2.2 簡(jiǎn)要原理
4.2.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
4.2.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
4.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
4.2.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
4.3 傅里葉變換全息圖實(shí)驗(yàn)
4.3.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
4.3.2 簡(jiǎn)要原理
4.3.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
4.3.4 .實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
4.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
4.3.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
5 薄膜光學(xué)實(shí)驗(yàn)
5.1 真空鍍膜實(shí)驗(yàn)
5.1.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
5.1.2 簡(jiǎn)要原理
5.1.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
5.1.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
5.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
5.1.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
5.2 橢偏法測(cè)量折射率和厚度實(shí)驗(yàn)
5.2.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
5.2.2 簡(jiǎn)要原理
5.2.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
5.2.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
5.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
5.2.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
5.3 分光光度法測(cè)量透射率和反射率實(shí)驗(yàn)
5.3.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
5.3.2 實(shí)驗(yàn)原理與方法
5.3.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備
5.3.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
5.3.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
5.3.6 實(shí)驗(yàn)拓展
附錄A 光電探測(cè)器的響應(yīng)時(shí)間
A.1 脈沖響應(yīng)特性
A.2 幅頻特性
附錄B ZZS-700型真空鍍膜機(jī)及操作規(guī)程
附錄C TPY-2型橢圓偏振測(cè)厚儀及實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程
附錄D TJ270-30（30A）型紅外分光光度計(jì)和WFZ-26A型紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)主要性能指標(biāo)
D.1 TJ270-30（30A）型紅外分光光度計(jì)主要性能指