近代物理實(shí)驗(yàn)（第二版）

目錄
第一章 誤差理論與數(shù)據(jù)處理 1
第一節(jié) 導(dǎo)論 1
第二節(jié) 測(cè)量與誤差 3
一、測(cè)量 3
二、誤差 4
三、測(cè)量不確定度 11
四、測(cè)量結(jié)果的有效數(shù)字 17
五、數(shù)據(jù)處理 19
第二章 原子物理實(shí)驗(yàn) 23
實(shí)驗(yàn)1 塞曼效應(yīng) 24
實(shí)驗(yàn)2 光電效應(yīng)法測(cè)量普朗克常數(shù) 33
實(shí)驗(yàn)3 原子力顯微鏡的使用 43
實(shí)驗(yàn)4 氫(氘)原子光譜及里德伯常數(shù)的測(cè)量 49
實(shí)驗(yàn)5 巨磁電阻效應(yīng)及其應(yīng)用 56
實(shí)驗(yàn)6 密立根油滴實(shí)驗(yàn) 71
實(shí)驗(yàn)7 弗蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn) 80
第三章 磁共振技術(shù) 87
實(shí)驗(yàn)8 核磁共振 88
實(shí)驗(yàn)9 光泵磁共振 98
實(shí)驗(yàn)10 電子自旋共振 108
實(shí)驗(yàn)11 鐵磁共振 115
第四章 真空與低溫技術(shù) 122
實(shí)驗(yàn)12 高溫超導(dǎo)材料特性測(cè)試 123
實(shí)驗(yàn)13 四探針?lè)y(cè)量金屬薄膜電阻率 132
實(shí)驗(yàn)14 用橢偏儀測(cè)量薄膜的厚度和折射率 140
實(shí)驗(yàn)15 真空技術(shù)與真空鍍膜 151
實(shí)驗(yàn)16 臺(tái)階儀的使用及薄膜厚度的測(cè)量 162
第五章 激光技術(shù)與近代光學(xué) 166
實(shí)驗(yàn)17 音頻信號(hào)光纖傳輸技術(shù) 167
實(shí)驗(yàn)18 光學(xué)全息照相 178
第六章 液晶顯示技術(shù) 189
實(shí)驗(yàn)19 液晶器件制備 190
實(shí)驗(yàn)20 液晶器件電光效應(yīng)測(cè)試 203
第七章 先進(jìn)材料計(jì)算實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì) 212
實(shí)驗(yàn)21 計(jì)算物理實(shí)驗(yàn)(第一性原理計(jì)算) 213
實(shí)驗(yàn)22 MATLAB基礎(chǔ)與數(shù)據(jù)處理實(shí)驗(yàn) 218