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當前位置: 首頁出版圖書科學技術工業(yè)技術金屬學、金屬工藝互換性與技術測量基礎

互換性與技術測量基礎

互換性與技術測量基礎

定 價:¥38.00

作 者: 王莉靜,郝龍,吳金文 著
出版社: 華中科技大學出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

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ISBN: 9787568059763 出版時間: 2020-05-01 包裝: 平裝
開本: 32開 頁數(shù): 字數(shù):  

內容簡介

  本書分為9章,主要包括我國公差與配合方面的最*標準,闡述了技術測量的基本原理,主要包括緒論,測量技術基礎,極限與配合,幾何公差,表面粗糙度及其評定,光滑工件尺寸的檢驗和光滑極限量規(guī)的設計,常用典型件的互換性,圓柱齒輪公差與檢測,尺寸鏈計算。

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