透射電子顯微學(xué)（下冊）

第三篇 成像原理
第22章 振幅襯度
章節(jié)預(yù)覽
22.1 什么是襯度？
22.2 振幅襯度
22.2.1 圖像和衍射花樣
22.2.2 物鏡光闌和sTEM探頭的使用：明場像和暗場像
22.3 質(zhì)-厚襯度
22.3.1 質(zhì)-厚襯度的原理
22.3.2 TEM圖像
22.3.3 STEM圖像
22.3.4 質(zhì)-厚襯度樣品
22.3.5 定量質(zhì)-厚襯度
22.4 Z襯度
22.5 TEM衍射襯度
22.5.1 雙束條件
22.5.2 設(shè)置偏離參量s
22.5.3 拍攝雙束CDF圖像
22.5.4 圖像和衍射花樣的關(guān)系
22.6 STEM衍射襯度
章節(jié)總結(jié)
參考文獻(xiàn)
自測題
章節(jié)具體問題
第23章 相位襯度成像
章節(jié)預(yù)覽
23.1 介紹
23.2 晶格條紋像的起源
23.3 晶格條紋像的實(shí)踐觀察
23.3.1 s=0的情況
23.3.2 s≠0的情況
23.4 正帶軸晶格條紋像
23.5 莫爾條紋
23.5.1 平移莫爾條紋
23.5.2 旋轉(zhuǎn)莫爾條紋
23.5.3 一般莫爾條紋
23.6 實(shí)驗(yàn)觀察莫爾條紋
23.6.1 平移莫爾條紋
23.6.2 旋轉(zhuǎn)莫爾條紋
23.6.3 位錯和莫爾條紋
23.6.4 復(fù)雜莫爾條紋
23.7 菲涅耳襯度
23.7.1 菲涅耳雙棱鏡
23.7.2 磁疇壁
23.8 孔洞或氣泡的菲涅耳襯度
23.9 晶格缺陷的菲涅耳襯度
23.9.1 晶界
23.9.2 露頭位錯
章節(jié)總結(jié)
參考文獻(xiàn)
自測題
章節(jié)具體問題
第24章 厚度效應(yīng)和彎曲效應(yīng)
章節(jié)預(yù)覽
24.1 基本原理
24.2 厚度條紋
24.3 厚度條紋和衍射花樣（DP）
24.4 彎曲輪廓（討厭的瑕疵、有用的工具、珍貴的觀點(diǎn)）
24.5 ZAP和實(shí)空間晶體學(xué)
24.6 凸起、凹陷和鞍狀彎曲
24.7 吸收效應(yīng)
24.8 厚度條紋的計算機(jī)模擬
……
第四篇 能譜分析
索引