微位移平臺(tái)數(shù)據(jù)采集與處理技術(shù)

第1章 緒論
1．1 微位移平臺(tái)概述
1．2 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)概述
1．3 數(shù)據(jù)處理概述
第2章 整體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
2．1 控制系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集部分
2．2 檢驗(yàn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集部分
第3章 控制系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集原理
3．1 香農(nóng)采樣定理
3．2 ADC／DAC轉(zhuǎn)換指標(biāo)
3．3 電容傳感器的特性分析
第4章 檢驗(yàn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集原理
4．1 基于光的干涉理論的位移測量
4．2 激光干涉儀的測長原理
4．3 空氣折射率算法
第5章 控制系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集部分的實(shí)現(xiàn)方法
5．1 控制系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集整體設(shè)計(jì)方案
5．2 主要器件選擇
5．3 A／D電路設(shè)計(jì)
5．4 D／A與DSP接口電路設(shè)計(jì)
5．5 電路的PcB板制作與數(shù)據(jù)采集實(shí)驗(yàn)
5．6 信號(hào)完整性分析
5．7 數(shù)據(jù)采集
第6章 檢驗(yàn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集部分的實(shí)現(xiàn)方法
6．1 系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)
6．2 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
6．3 實(shí)驗(yàn)過程及結(jié)果分析
第7章 控制系統(tǒng)數(shù)據(jù)處理
7．1 精密定位控制系統(tǒng)噪聲來源分析
7．2 傳統(tǒng)數(shù)字濾波器設(shè)計(jì)與分析
7．3 FIR濾波器設(shè)計(jì)
7．4 結(jié)合文化算法與案例推理的數(shù)字濾波器設(shè)計(jì)
7．5 電容傳感器的非線性校正
第8章 檢驗(yàn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)處理
8．1 檢驗(yàn)系統(tǒng)簡介
8．2 測量參數(shù)
8．3 檢驗(yàn)方法與數(shù)據(jù)處理
參考文獻(xiàn)