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內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《光斑定位技術(shù)》圍繞基于光斑位置檢測(cè)的激光檢測(cè)技術(shù)展開(kāi)，詳細(xì)論述了光電測(cè)量的分支——光斑定位技術(shù)及其應(yīng)用。全書(shū)共分為兩篇：篇重點(diǎn)闡述光斑位置檢測(cè)技術(shù)的原理及相關(guān)器件；第二篇詳細(xì)論述了光斑定位技術(shù)在同軸度測(cè)量、傾角測(cè)量、表面三維形態(tài)監(jiān)測(cè)、牙頜局部變形及咬合運(yùn)動(dòng)虛擬再現(xiàn)等方面的應(yīng)用。《光斑定位技術(shù)》內(nèi)容涉及光學(xué)、機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)等諸多學(xué)科的交叉滲透，以軍事、醫(yī)學(xué)和水電領(lǐng)域的實(shí)際需求為背景，以光斑位置測(cè)量技術(shù)為基礎(chǔ)，是光電測(cè)量技術(shù)理論與實(shí)踐的統(tǒng)一體。《光斑定位技術(shù)》可以作為計(jì)算機(jī)測(cè)量、激光檢測(cè)等專業(yè)的高校學(xué)生理論聯(lián)系實(shí)踐的輔導(dǎo)教材，還可作為相關(guān)領(lǐng)域科研人員的參考資料。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《光斑定位技術(shù)》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

篇光斑定位技術(shù)
章光電測(cè)量技術(shù)
1．1 引言
1．2 光電測(cè)量技術(shù)特點(diǎn)與分類
1．2．1 光電測(cè)量技術(shù)特點(diǎn)
1．2．2 光電測(cè)量技術(shù)分類
第2章光斑位置檢測(cè)技術(shù)
2．1 光斑位置測(cè)量技術(shù)
2．1．1 光斑位置測(cè)量概述
2．1．2 光斑位置測(cè)量技術(shù)
2．2 光斑位置測(cè)量技術(shù)應(yīng)用
2．2．1 同軸度測(cè)量技術(shù)
2．2．2 建筑變形測(cè)量技術(shù)
2．2．3 光學(xué)三維面形測(cè)量技術(shù)
2．2．4 激光三維面形測(cè)量技術(shù)
2．2．5 運(yùn)動(dòng)測(cè)量技術(shù)
2．3 光斑位置測(cè)量中的數(shù)據(jù)處理
第3章光斑位置檢測(cè)器件
3．1 實(shí)現(xiàn)光斑位置檢測(cè)的器件
3．1．1 CCD器件
3，1．2 CMOS圖像傳感器
3．1．3 PSD器件
3．2 半導(dǎo)體激光準(zhǔn)直光源
3．2．1 激光二極管（LD）
3．2．2 準(zhǔn)直透鏡
3．2．3 整形棱鏡
3．2．4 驅(qū)動(dòng)電路
3．3 PSD器件
3．3．1 橫向光電效應(yīng)簡(jiǎn)介
3．3．2 PSD性能指標(biāo)
3．3．3 影響PSD測(cè)量精度的因素
3．4 PSD光斑定位技術(shù)
3．4．1 PSD應(yīng)用的原則
3．4．2 光斑定位算法
3．4．3 與光斑定位有關(guān)的二維表快速檢索算法
3．4．4 PSD器件非線性誤差的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)修正方法
3．4．5 一維光斑位置傳感器非線性誤差修正
3．5 環(huán)境光的影響與消除
3．5．1 環(huán)境光的影響模式
3．5．2 消除環(huán)境光影響的方法
3．5．3 試驗(yàn)結(jié)果
3．6 用一維PSD實(shí)現(xiàn)二維檢測(cè)
3．6．1 擴(kuò)大PSD量程的方法
3．6．2 用一維PSD實(shí)現(xiàn)二維檢測(cè)
3．7 光線定位技術(shù)
3．8 CMOS圖像傳感器用作光斑位置傳感器的研究
3．8．1 結(jié)構(gòu)形式及物鏡幾何畸變的校正
3．8．2 基于OV9120的光斑位置傳感器設(shè)計(jì)
3．9 大相對(duì)孔徑半導(dǎo)體激光準(zhǔn)直鏡的設(shè)計(jì)
3．9．1 半導(dǎo)體激光束經(jīng)圓孔的耦合效率
3．9．2 三片式大相對(duì)孔徑激光準(zhǔn)直物鏡的設(shè)計(jì)
……
第二篇光斑定位技術(shù)應(yīng)用