軟件測(cè)試實(shí)用方法與技術(shù)

第1章軟件測(cè)試概述1
1.1軟件測(cè)試簡(jiǎn)史1
1.2軟件測(cè)試定義3
1.3軟件測(cè)試原則4
1.4軟件的可測(cè)試性6
1.4.1可測(cè)試性定義與內(nèi)涵6
1.4.2可測(cè)試性設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)7
1.4.3可測(cè)試性度量與評(píng)估9
1.5軟件測(cè)試模型9
1.5.1V模型9
1.5.2W模型10
1.5.3H模型11
1.6軟件測(cè)試級(jí)別與測(cè)試類型12
1.6.1軟件測(cè)試級(jí)別12
1.6.2軟件測(cè)試類型13
1.6.3軟件關(guān)鍵等級(jí)16
1.7軟件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范18
1.7.1相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)概述18
1.7.2GB/T 9386—2008《計(jì)算機(jī)軟件測(cè)試文檔編制規(guī)范》21
1.7.3GB/T 15532—2008《計(jì)算機(jī)軟件測(cè)試規(guī)范》21
1.7.4GB/T 25000.51—2010《軟件工程軟件產(chǎn)品質(zhì)量要求和評(píng)價(jià)
（SQuaRE）商業(yè)現(xiàn)貨（COTS）軟件產(chǎn)品的質(zhì)量要求和測(cè)試細(xì)則》21
1.7.5ISO/IEC 29119 Software Testing22
1.8軟件測(cè)試人員能力素質(zhì)要求26
1.9術(shù)語與縮略語27

第2章靜態(tài)測(cè)試技術(shù)29
2.1文檔審查29
2.1.1實(shí)施要點(diǎn)30
2.1.2組織與流程30
2.1.3成果形式31
2.2代碼審查34
2.2.1實(shí)施要點(diǎn)34
2.2.2組織與流程35
2.2.3成果形式35
2.3靜態(tài)分析38
2.3.1實(shí)施要點(diǎn)38
2.3.2組織與流程39
2.3.3成果形式40
2.4代碼走查40
2.4.1實(shí)施要點(diǎn)40
2.4.2組織與流程40
2.4.3成果形式41
2.5靜態(tài)測(cè)試技術(shù)分析41
〖1〗軟件測(cè)試實(shí)用方法與技術(shù)〖1〗目錄
第3章動(dòng)態(tài)測(cè)試技術(shù)43
3.1白盒測(cè)試43
3.1.1概述43
3.1.2白盒測(cè)試基礎(chǔ)46
3.1.3基本路徑測(cè)試51
3.1.4控制結(jié)構(gòu)測(cè)試53
3.1.5其他白盒測(cè)試技術(shù)61
3.2黑盒測(cè)試64
3.2.1概述64
3.2.2等價(jià)類劃分65
3.2.3邊界值分析68
3.2.4因果圖與決策表法70
3.2.5組合測(cè)試75
3.2.6基于場(chǎng)景測(cè)試77
3.2.7錯(cuò)誤推測(cè)法81
3.2.8黑盒測(cè)試技術(shù)分析84
3.3灰盒測(cè)試85
3.3.1概述85
3.3.2實(shí)施步驟86
3.3.3灰盒測(cè)試技術(shù)分析86
3.4動(dòng)態(tài)測(cè)試技術(shù)分析87

第4章單元測(cè)試89
4.1概述89
4.1.1單元測(cè)試的定義89
4.1.2單元測(cè)試的目的89
4.1.3單元測(cè)試的重要性90
4.2單元測(cè)試原則92
4.3單元測(cè)試環(huán)境92
4.4單元測(cè)試策略94
4.4.1自頂向下94
4.4.2自底向上94
4.4.3獨(dú)立單元95
4.5單元測(cè)試內(nèi)容95
4.5.1功能測(cè)試96
4.5.2性能測(cè)試96
4.5.3接口測(cè)試96
4.5.4局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)測(cè)試96
4.5.5邊界條件測(cè)試97
4.5.6獨(dú)立執(zhí)行路徑測(cè)試97
4.5.7錯(cuò)誤處理測(cè)試97
4.6單元測(cè)試方法98
4.6.1靜態(tài)測(cè)試98
4.6.2動(dòng)態(tài)測(cè)試99
4.7單元測(cè)試用例設(shè)計(jì)100
4.8單元測(cè)試過程101
4.8.1測(cè)試策劃102
4.8.2靜態(tài)測(cè)試103
4.8.3動(dòng)態(tài)測(cè)試111
4.8.4測(cè)試總結(jié)113

第5章集成測(cè)試114
5.1概述114
5.1.1集成測(cè)試的定義114
5.1.2集成測(cè)試的目的115
5.1.3集成測(cè)試的重要性116
5.2集成測(cè)試原則117
5.3集成測(cè)試環(huán)境117
5.4集成測(cè)試策略118
5.4.1大爆炸式集成119
5.4.2自頂向下集成120
5.4.3自底向上集成122
5.4.4三明治式集成123
5.4.5核心系統(tǒng)先行集成124
5.4.6分層集成125
5.4.7基于功能的集成126
5.4.8高頻集成127
5.4.9基于進(jìn)度的集成128
5.4.10基于使用的集成128
5.4.11基于風(fēng)險(xiǎn)的集成129
5.4.12客戶/服務(wù)器系統(tǒng)的集成129
5.5集成測(cè)試內(nèi)容130
5.6測(cè)試方法131
5.6.1體系結(jié)構(gòu)分析131
5.6.2模塊分析131
5.6.3接口分析132
5.6.4可測(cè)試性分析133
5.6.5集成測(cè)試策略分析133
5.7集成測(cè)試用例設(shè)計(jì)133
5.8集成測(cè)試過程134
5.8.1測(cè)試策劃135
5.8.2測(cè)試設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)137
5.8.3測(cè)試執(zhí)行138
5.8.4測(cè)試總結(jié)138

第6章配置項(xiàng)測(cè)試140
6.1概述140
6.1.1配置項(xiàng)測(cè)試的定義140
6.1.2配置項(xiàng)測(cè)試的目的140
6.1.3配置項(xiàng)測(cè)試的重要性141
6.2配置項(xiàng)測(cè)試原則141
6.3配置項(xiàng)測(cè)試環(huán)境142
6.4配置項(xiàng)測(cè)試策略143
6.5配置項(xiàng)測(cè)試內(nèi)容143
6.6配置項(xiàng)測(cè)試方法144
6.6.1功能測(cè)試145
6.6.2性能測(cè)試146
6.6.3接口測(cè)試147
6.6.4人機(jī)交互界面測(cè)試148
6.6.5強(qiáng)度測(cè)試149
6.6.6余量測(cè)試149
6.6.7安全性測(cè)試150
6.6.8恢復(fù)性測(cè)試151
6.6.9邊界測(cè)試152
6.6.10數(shù)據(jù)處理測(cè)試152
6.6.11安裝性測(cè)試153
6.6.12容量測(cè)試154
6.7配置項(xiàng)測(cè)試用例設(shè)計(jì)154
6.7.1概述154
6.7.2SFME&FTA綜合分析155
6.7.3建立軟件測(cè)試用例設(shè)計(jì)模式158
6.7.4應(yīng)用實(shí)例159
6.8配置項(xiàng)測(cè)試過程161
6.8.1測(cè)試策劃162
6.8.2測(cè)試設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)163
6.8.3測(cè)試執(zhí)行164
6.8.4測(cè)試總結(jié)164

第7章系統(tǒng)測(cè)試166
7.1概述166
7.1.1系統(tǒng)測(cè)試的定義166
7.1.2系統(tǒng)測(cè)試的目的166
7.1.3系統(tǒng)測(cè)試的重要性167
7.2系統(tǒng)測(cè)試原則167
7.3系統(tǒng)測(cè)試環(huán)境168
7.4系統(tǒng)測(cè)試策略168
7.5系統(tǒng)測(cè)試內(nèi)容169
7.6系統(tǒng)測(cè)試方法169
7.6.1可靠性測(cè)試169
7.6.2互操作性測(cè)試172
7.6.3兼容性測(cè)試173
7.7系統(tǒng)測(cè)試用例設(shè)計(jì)174
7.7.1概述174
7.7.2系統(tǒng)形式化模型175
7.7.3基于模型的系統(tǒng)測(cè)試178
7.7.4實(shí)例182
7.8系統(tǒng)測(cè)試過程184

第8章回歸測(cè)試185
8.1概述185
8.1.1回歸測(cè)試的定義185
8.1.2回歸測(cè)試的目的186
8.1.3回歸測(cè)試的重要性186
8.2回歸測(cè)試策略187
8.3軟件更動(dòng)影響域分析方法187
8.3.1黑盒測(cè)試更動(dòng)影響域分析187
8.3.2白盒測(cè)試更動(dòng)影響域分析191
8.4回歸測(cè)試用例設(shè)計(jì)195
8.4.1回歸測(cè)試用例設(shè)計(jì)原則195
8.4.2已有測(cè)試用例的選取195
8.5回歸測(cè)試過程198

第9章面向?qū)ο筌浖y(cè)試200
9.1面向?qū)ο筌浖?jiǎn)介200
9.2面向?qū)ο筌浖y(cè)試概述203
9.2.1面向?qū)ο筌浖奶攸c(diǎn)對(duì)測(cè)試的影響203
9.2.2面向?qū)ο筌浖y(cè)試和傳統(tǒng)測(cè)試的不同204
9.2.3面向?qū)ο筌浖y(cè)試分類205
9.3面向?qū)ο筌浖y(cè)試模型205
9.3.1面向?qū)ο蠓治鰷y(cè)試206
9.3.2面向?qū)ο笤O(shè)計(jì)測(cè)試208
9.3.3面向?qū)ο缶幊虦y(cè)試208
9.3.4面向?qū)ο髥卧獪y(cè)試209
9.3.5面向?qū)ο蠹蓽y(cè)試212
9.3.6面向?qū)ο笙到y(tǒng)測(cè)試215

第10章FPGA測(cè)試218
10.1FPGA測(cè)試概述218
10.1.1可編程邏輯器件的基本概念218
10.1.2硬件描述語言的發(fā)展歷程219
10.1.3VHDL語言219
10.1.4Verilog HDL語言220
10.1.5面向可編程邏輯器件的開發(fā)過程220
10.1.6可編程邏輯器件軟件與傳統(tǒng)軟件的不同222
10.1.7全過程域的可編程邏輯器件測(cè)試框架223
10.2靜態(tài)測(cè)試223
10.2.1文檔審查224
10.2.2代碼審查227
10.2.3編碼規(guī)則檢查229
10.2.4跨時(shí)鐘域分析230
10.2.5等效性驗(yàn)證235
10.2.6靜態(tài)時(shí)序分析239
10.3仿真測(cè)試243
10.3.1仿真測(cè)試的特點(diǎn)244
10.3.2仿真測(cè)試平臺(tái)的組成245
10.3.3仿真測(cè)試的流程245
10.3.4功能仿真測(cè)試247
10.3.5門級(jí)仿真測(cè)試248
10.3.6時(shí)序仿真測(cè)試248
10.3.7仿真測(cè)試支持工具249
10.4軟硬協(xié)同驗(yàn)證250
10.4.1驗(yàn)證環(huán)境構(gòu)成250
10.4.2支持工具251
10.5板級(jí)驗(yàn)證251
10.5.1作用251
10.5.2板級(jí)驗(yàn)證的典型環(huán)境252
10.5.3板級(jí)驗(yàn)證的流程252

第11章測(cè)試工具254
11.1概述254
11.2靜態(tài)測(cè)試工具255
11.2.1Logiscope255
11.2.2PRQA257
11.2.3SpyGlass259
11.2.4PrimeTime261
11.2.5Formalpro261
11.2.6其他靜態(tài)測(cè)試工具262
11.3動(dòng)態(tài)測(cè)試工具262
11.3.1QACenter262
11.3.2WinRunner265
11.3.3JUnit266
11.3.4Testbed268
11.3.5CodeTest270
11.3.6QuestaSim271
11.3.7其他動(dòng)態(tài)測(cè)試工具272
11.4測(cè)試管理工具272
11.4.1TestCenter272
11.4.2TPManager274
11.4.3其他測(cè)試工具278

第12章軟件測(cè)試文檔279
12.1概述279
12.2制定測(cè)試計(jì)劃280
12.2.1測(cè)試計(jì)劃內(nèi)容280
12.2.2測(cè)試計(jì)劃模板281
12.2.3測(cè)試計(jì)劃常見問題284
12.3測(cè)試設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)285
12.3.1測(cè)試設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)的內(nèi)容286
12.3.2測(cè)試說明模板287
12.3.3測(cè)試設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)常見問題288
12.4測(cè)試執(zhí)行290
12.4.1測(cè)試執(zhí)行的內(nèi)容290
12.4.2測(cè)試執(zhí)行模板290
12.4.3測(cè)試實(shí)施常見問題292
12.5測(cè)試總結(jié)293
12.5.1測(cè)試總結(jié)的內(nèi)容293
12.5.2測(cè)試總結(jié)模板294
12.5.3測(cè)試總結(jié)常見問題296

參考文獻(xiàn)298