雷達(dá)目標(biāo)散射特性測(cè)量與處理技術(shù)

　　目標(biāo)RCS測(cè)量、處理和評(píng)估貫穿于隱身裝備設(shè)計(jì)、研制、試驗(yàn)和使用維護(hù)的各個(gè)階段?！独走_(dá)目標(biāo)散射特性測(cè)量與處理技術(shù)》在對(duì)RCS測(cè)量與處理技術(shù)領(lǐng)域公開文獻(xiàn)資料進(jìn)行歸納和分析的同時(shí)，重點(diǎn)對(duì)作者所在實(shí)驗(yàn)室近年來在該領(lǐng)域的基礎(chǔ)理論、實(shí)驗(yàn)和應(yīng)用性研究成果進(jìn)行了系統(tǒng)的總結(jié)，尤其是對(duì)國內(nèi)外現(xiàn)有文獻(xiàn)鮮有涉及而工程實(shí)用價(jià)值又較高的新模型、新方法和新技術(shù)進(jìn)行了討論。全書一半以上的篇幅用于闡述作者所在實(shí)驗(yàn)室的理論和技術(shù)研究成果。全書共分為8章，首先建立目標(biāo)寬帶散射函數(shù)和散射分布函數(shù)的概念，然后圍繞可探測(cè)目標(biāo)的RCS測(cè)試場(chǎng)和寬帶成像診斷測(cè)量技術(shù)問題進(jìn)行討論，主要包括：RCS測(cè)試場(chǎng)和寬帶相參測(cè)量雷達(dá)、低散射目標(biāo)支架設(shè)計(jì)方法、新型RCS定標(biāo)體與定標(biāo)處理技術(shù)、背景輔助測(cè)量與提取技術(shù)、目標(biāo)高分辨率診斷成像技術(shù)、極化校準(zhǔn)測(cè)量與處理技術(shù)，以及RCS數(shù)據(jù)的處理、評(píng)估與報(bào)告等?！独走_(dá)目標(biāo)散射特性測(cè)量與處理技術(shù)》可供從事低可探測(cè)目標(biāo)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)、目標(biāo)與環(huán)境特性、雷達(dá)目標(biāo)散射現(xiàn)象學(xué)、武器系統(tǒng)仿真等技術(shù)領(lǐng)域的廣大研究人員、工程技術(shù)人員和部隊(duì)官兵參考，也可作為相關(guān)院校教師和研究生的教學(xué)與研究參考書。

　　許小劍，1963年生，江西萬安人。1983年合肥工業(yè)大學(xué)獲無線電技術(shù)專業(yè)工學(xué)學(xué)士，1986年航天部二院獲電磁場(chǎng)與微波技術(shù)專業(yè)工學(xué)碩士，1994年英國帝國理工學(xué)院高級(jí)訪問學(xué)者，2002年美國內(nèi)布拉斯加大學(xué)獲博士學(xué)位。2002年以前在北京環(huán)境特性研究所從事科研和科研管理工作，2003年起任北京航空航天大學(xué)電子信息工程學(xué)院教授、博導(dǎo)。長期從事國防科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域研究工作，主要研究方向包括遙感特征建模、分析與處理，雷達(dá)成像、圖像理解與目標(biāo)識(shí)別等。獲國家科技進(jìn)步二等獎(jiǎng)1項(xiàng)，部級(jí)科技進(jìn)步一等獎(jiǎng)2項(xiàng)、二等獎(jiǎng)4項(xiàng)、三等獎(jiǎng)1項(xiàng)；國務(wù)院政府特殊津貼專家、航天總公司有突出貢獻(xiàn)專家。合作出版專著與教材5部，發(fā)表學(xué)術(shù)論文260余篇，其中SCI和EI檢索約200篇，授權(quán)發(fā)明專利30余件。