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光電測(cè)試技術(shù)實(shí)驗(yàn)教程

光電測(cè)試技術(shù)實(shí)驗(yàn)教程

定　價(jià)：￥28.00

作　者： 田亮亮，胡榮，蒲勇 著
出版社： 科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)： 普通高等教育電子電氣信息類(lèi)應(yīng)用型本科系列規(guī)劃教材
標(biāo)　簽： 工學(xué) 教材 研究生/本科/專(zhuān)科教材

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ISBN： 9787030514622 出版時(shí)間： 2017-03-01 包裝： 平裝
開(kāi)本： 16開(kāi) 頁(yè)數(shù)： 156 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本教材針對(duì)光電材料的光電材料的測(cè)試技術(shù)進(jìn)行內(nèi)容編排，既包含了諸如XRD、SEM等常規(guī)分析測(cè)試手段，也包含了多種光電材料的專(zhuān)業(yè)測(cè)試技術(shù).本書(shū)適合電子、光電專(zhuān)業(yè)大中專(zhuān)學(xué)生使用。也適合從事相關(guān)研究人員參考用書(shū) 。

作者簡(jiǎn)介

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