分析化學(xué)手冊9B：無機(jī)質(zhì)譜分析（第三版）

第一篇　總　　論
第一章　導(dǎo)論 2
第一節(jié)　質(zhì)譜學(xué)發(fā)展簡史 2
一、質(zhì)譜儀器 2
二、同位素質(zhì)譜法 4
三、無機(jī)質(zhì)譜法 5
第二節(jié)　名詞、術(shù)語 6
一、基礎(chǔ)名詞、術(shù)語 6
二、儀器相關(guān)名詞、術(shù)語 10
三、方法相關(guān)名詞、術(shù)語 11
第三節(jié)　相關(guān)基本常數(shù)和單位制 15
一、基本物理常數(shù) 15
二、國際單位制的相關(guān)基本單位和導(dǎo)出單位 15
三、相關(guān)的單位換算 16
第四節(jié)　獲取信息的主要途徑 16
一、學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu) 16
二、期刊 17
參考文獻(xiàn) 18
第二章　質(zhì)譜儀器 21
第一節(jié)　質(zhì)譜儀器的基本結(jié)構(gòu)和分類 21
一、質(zhì)譜儀器的基本結(jié)構(gòu) 21
二、質(zhì)譜儀器的分類 21
第二節(jié)　進(jìn)樣系統(tǒng) 22
一、直接進(jìn)樣系統(tǒng) 22
二、間接進(jìn)樣系統(tǒng) 22
第三節(jié)　離子源 22
一、電子轟擊型離子源 22
二、離子轟擊型離子源 23
三、原子轟擊型離子源 25
四、放電型離子源 26
五、熱電離離子源 27
六、電感耦合等離子體離子源 28
七、其他類型的電離技術(shù) 29
第四節(jié)　質(zhì)量分析器 30
一、磁式質(zhì)量分析器 30
二、雙聚焦質(zhì)量分析器 31
三、飛行時間質(zhì)量分析器 31
四、四極濾質(zhì)器 33
五、離子阱質(zhì)量分析器 34
六、傅里葉變換離子回旋共振質(zhì)量分析器 34
第五節(jié)　離子檢測及數(shù)據(jù)處理 35
一、法拉第杯檢測器 35
二、電子倍增器 35
三、其他類型的離子檢測裝置 37
四、數(shù)據(jù)處理 38
第六節(jié)　真空系統(tǒng) 40
一、質(zhì)譜儀器的真空要求 41
二、真空的獲得及真空測量 41
三、各種真空組件 42
第七節(jié)　質(zhì)譜儀器的主要技術(shù)指標(biāo) 43
一、質(zhì)量范圍 43
二、分辨本領(lǐng) 43
三、靈敏度 44
四、豐度靈敏度 44
五、精密度和準(zhǔn)確度 44
參考文獻(xiàn) 45

第二篇　同位素質(zhì)譜分析
第三章 氣體穩(wěn)定同位素質(zhì)譜法 48
第一節(jié)　氣體穩(wěn)定同位素質(zhì)譜概述 48
一、進(jìn)樣系統(tǒng) 48
二、離子源 49
三、質(zhì)量分析器 50
四、檢測系統(tǒng) 50
第二節(jié)　樣品制備技術(shù) 50
一、水中氫同位素制備技術(shù) 50
二、碳同位素制備技術(shù) 53
三、氮同位素制備技術(shù) 59
四、氧同位素制備技術(shù) 63
五、硫同位素制備技術(shù) 72
第三節(jié) 穩(wěn)定同位素質(zhì)譜分析法 74
一、穩(wěn)定同位素的表示方法、標(biāo)準(zhǔn)及其分析流程 74
二、質(zhì)譜分析數(shù)據(jù)計算 76
三、穩(wěn)定同位素質(zhì)譜分析誤差 87
參考文獻(xiàn) 88
第四章　熱電離質(zhì)譜法 90
第一節(jié)　熱電離質(zhì)譜法原理 90
一、熱電離 90
二、離子束聚焦、拉出 93
三、質(zhì)量分離 94
四、離子檢測 94
第二節(jié)　熱電離質(zhì)譜儀 95
一、離子源 95
二、質(zhì)量分離器 97
三、離子檢測器 97
四、附屬設(shè)備 102
第三節(jié)　試驗(yàn)方法 102
一、測量前的工作程序 102
二、測量方法 111
三、測量結(jié)果的表達(dá) 113
四、影響準(zhǔn)確測量的主要因素 115
五、方法的主要特點(diǎn) 120
第四節(jié)　熱電離質(zhì)譜法的應(yīng)用 120
一、堿金屬、堿土金屬元素同位素測量 121
二、過渡元素測量 122
三、稀土元素測量（原子量測量） 123
四、錒系元素測量 126
五、硼、氯、溴、氧、氮等非金屬元素同位素測量 129
參考文獻(xiàn) 132
第五章　加速器質(zhì)譜法 134
第一節(jié)　加速器質(zhì)譜方法原理與特點(diǎn) 134
第二節(jié)　AMS分析裝置 135
一、離子源與注入器 136
二、加速器 137
三、高能分析器 138
四、離子探測器 139
五、基于其他加速器的AMS裝置 139
第三節(jié)　加速器質(zhì)譜測量過程與定量分析方法 140
一、測量過程 140
二、定量分析方法 140
三、測量實(shí)例 140
四、一些主要核素的測量情況 143
五、AMS測量極限與限制 143
第四節(jié)　加速器質(zhì)譜應(yīng)用研究 144
一、14C 144
二、36Cl 145
三、10Be 145
四、129I 146
五、41Ca 146
六、其他核素 147