CMOS模擬集成電路版圖設(shè)計(jì)與驗(yàn)證：基于Cadence Virtuoso與Mentor Cal

第1章  CMOS模擬集成電路版圖基礎(chǔ)
1．1  CMOS工藝基礎(chǔ)及制造流程
1．2  CMOS模擬集成電路設(shè)計(jì)流程
1．3  CMOS模擬集成電路版圖定義
1．4  CMOS模擬集成電路版圖設(shè)計(jì)流程
1．4．1  版圖規(guī)劃
1．4．2  設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)
1．4．3  版圖驗(yàn)證
1．4．4  版圖完成
1．5  版圖設(shè)計(jì)通用規(guī)則
1．6  CMOS模擬集成電路版圖匹配設(shè)計(jì)
1．6．1  CMOS工藝失配機(jī)理
1．6．2  元器件版圖匹配設(shè)計(jì)規(guī)則
第2章  Cadence Virtuoso版圖設(shè)計(jì)工具
2．1  Virtuoso 界面介紹
2．1．1  Virtuoso CIW界面介紹
2．1．2  Virtuoso Library Manager界面介紹
2．1．3  Virtuoso Layout Editor界面介紹
2．2  Virtuoso 基本操作
第3章  Mentor Calibre版圖驗(yàn)證工具
3．1  Mentor Calibre版圖驗(yàn)證工具調(diào)用
3．2  Mentor Calibre DRC驗(yàn)證
3．2．1  Calibre DRC驗(yàn)證簡(jiǎn)介
3．2．2  Calibre DRC界面介紹
3．2．3  Calibre DRC驗(yàn)證流程舉例
3．3  Mentor Calibre LVS驗(yàn)證
3．3．1  Calibre LVS驗(yàn)證簡(jiǎn)介
3．3．2  Calibre LVS界面介紹
3．3．3  Calibre LVS驗(yàn)證流程舉例
3．4  Mentor Calibre寄生參數(shù)提?。≒EX）
3．4．1  Calibre PEX驗(yàn)證簡(jiǎn)介
3．4．2  Calibre PEX界面介紹
3．4．3  Calibre PEX流程舉例
第4章  CMOS模擬集成電路版圖設(shè)計(jì)與驗(yàn)證流程
4．1  設(shè)計(jì)環(huán)境準(zhǔn)備
4．2  反相器鏈電路的建立和前仿真
4．3  反相器鏈版圖設(shè)計(jì)
4．4  反相器鏈版圖驗(yàn)證與參數(shù)提取
4．5  反相器鏈電路后仿真
4．6  I/O單元環(huán)設(shè)計(jì)
4．7  主體電路版圖與I/O單元環(huán)的連接
4．8  導(dǎo)出GDSII文件
第5章  運(yùn)算放大器的版圖設(shè)計(jì)與后仿真
5．1  運(yùn)算放大器基礎(chǔ)
5．1．1  運(yùn)算放大器的基本特性和分類(lèi)
5．1．2  運(yùn)算放大器性能參數(shù)
5．2  單級(jí)運(yùn)算放大器的版圖設(shè)計(jì)與后仿真
5．2．1  單級(jí)運(yùn)算放大器的版圖設(shè)計(jì)
5．2．2  單級(jí)運(yùn)算放大器的參數(shù)提取
5．2．3  單級(jí)運(yùn)算放大器的后仿真
5．3  兩級(jí)全差分運(yùn)算放大器的版圖設(shè)計(jì)與后仿真
5．3．1  兩級(jí)全差分運(yùn)算放大器的版圖設(shè)計(jì)
5．3．2  兩級(jí)全差分運(yùn)算放大器的參數(shù)提取
5．3．3  兩級(jí)全差分運(yùn)算放大器的后仿真
第6章  帶隙基準(zhǔn)源與低壓差線性穩(wěn)壓器的版圖設(shè)計(jì)與后仿真
6．1  帶隙基準(zhǔn)源的版圖設(shè)計(jì)與后仿真
6．1．1  帶隙基準(zhǔn)源基本原理
6．1．2  帶隙基準(zhǔn)源的版圖設(shè)計(jì)
6．1．3  帶隙基準(zhǔn)源的參數(shù)提取
6．1．4  帶隙基準(zhǔn)源的后仿真
6．2  低壓差線性穩(wěn)壓器的版圖設(shè)計(jì)與后仿真
6．2．1  低壓差線性穩(wěn)壓器的基本原理
6．2．2  低壓差線性穩(wěn)壓器的版圖設(shè)計(jì)
6．2．3  低壓差線性穩(wěn)壓器的參數(shù)提取
6．2．4  低壓差線性穩(wěn)壓器的后仿真
第7章  比較器電路的版圖設(shè)計(jì)與后仿真
7．1  比較器電路基礎(chǔ)
7．1．1  比較器性能參數(shù)
7．1．2  比較器特性分析
7．1．3  比較器電路結(jié)構(gòu)
7．2  比較器電路的版圖設(shè)計(jì)
7．3  比較器電路參數(shù)提取
7．4  比較器電路后仿真
第8章  標(biāo)準(zhǔn)I/O單元庫(kù)的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證
8．1  標(biāo)準(zhǔn)I/O單元庫(kù)概述
8．2  I/O單元庫(kù)基本電路結(jié)構(gòu)
8．3  I/O單元庫(kù)版圖設(shè)計(jì)
8．3．1  數(shù)字I/O單元版圖設(shè)計(jì)
8．3．2  模擬I/O單元的制作
8．3．3  焊盤(pán)（pad）的制作
8．4  電路參數(shù)提取及后仿真