數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書（第2版）

模塊一 基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)1 數(shù)字實(shí)、虛電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)室的構(gòu)建與使用
實(shí)驗(yàn)2 用SSI邏輯器件設(shè)計(jì)組合邏輯電路
實(shí)驗(yàn)3 用MSI邏輯器件設(shè)計(jì)組合邏輯電路
實(shí)驗(yàn)4 組合邏輯電路競爭冒險(xiǎn)現(xiàn)象的驗(yàn)證
實(shí)驗(yàn)5 基本觸發(fā)器邏輯功能測試及應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)6 用計(jì)數(shù)器設(shè)計(jì)簡單秒表
實(shí)驗(yàn)7 移位寄存器應(yīng)用設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)8 脈沖分配器的設(shè)計(jì)及應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)9 智力競賽搶答器的沒計(jì)
實(shí)驗(yàn)10 4位串行累加器的設(shè)計(jì)
模塊二 自學(xué)開放實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)11 二極管、三極管及場效應(yīng)管的開關(guān)特性及其簡單應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)12 TTL、CMOS集成邏輯門的參數(shù)測試及簡單應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)13 TTL集電極開路門與三態(tài)輸出門的應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)14 2位數(shù)值比較器
實(shí)驗(yàn)15 計(jì)數(shù)器與觸發(fā)器
實(shí)驗(yàn)16 基本邏輯門的簡單應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)17 編碼器設(shè)計(jì)與驗(yàn)證
實(shí)驗(yàn)18 譯碼器
實(shí)驗(yàn)19 555集成定時(shí)器的應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)20 分立器件和運(yùn)放組成的D／A電路
實(shí)驗(yàn)21 分立器件和運(yùn)放組成A／D電路
實(shí)驗(yàn)22 V型8位虛擬集成D／A轉(zhuǎn)換仿真驗(yàn)證
實(shí)驗(yàn)23 I型8位虛擬集成D／A轉(zhuǎn)換仿真驗(yàn)證
實(shí)驗(yàn)24 8位I型物理集成電路D／A轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)25 8位虛擬集成A／D轉(zhuǎn)換仿真驗(yàn)證
實(shí)驗(yàn)26 8位物理集成電路A／D轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)27 16位虛擬集成A／D轉(zhuǎn)換仿真驗(yàn)證
實(shí)驗(yàn)28 8位A／D—D／A轉(zhuǎn)換綜合仿真驗(yàn)證
模塊三 自主開放實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)29 半導(dǎo)體存儲電路實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)30 數(shù)字電容測試儀設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)31 數(shù)字頻率汁設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)32 數(shù)字電子琴設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)33 數(shù)字電壓表設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)34 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)35 數(shù)字鐘設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)36 讀圖分析電路訓(xùn)練一
實(shí)驗(yàn)37 讀圖分析電路訓(xùn)練二
模塊四 附錄
附錄一 數(shù)字電路IC基本知識
附錄二 常用電子儀器儀表簡介
附錄三 數(shù)字電路測試及故障查找與排除
附錄四 基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)所用集成電路引腳圖
附錄五 實(shí)驗(yàn)設(shè)備簡介
附錄六 常用電子技術(shù)仿真軟件簡介
附錄七 部分實(shí)驗(yàn)仿真步驟．
附錄八 數(shù)寧系統(tǒng)設(shè)計(jì)簡介．
附錄九 電子實(shí)驗(yàn)報(bào)告參考模板
參考文獻(xiàn)
第二版后記
第一版后記