掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡與納米光學(xué)測(cè)量

基礎(chǔ)篇
第一章 近場(chǎng)光學(xué)發(fā)展史
§1.1 近場(chǎng)光學(xué)和近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡發(fā)展簡(jiǎn)史
§1.2 近場(chǎng)光學(xué)理論研究
§1.3 近場(chǎng)光學(xué)最近的發(fā)展
§1.4 本章小結(jié)

第二章 近場(chǎng)光學(xué)原理
§2.1 近場(chǎng)光學(xué)原理發(fā)展概況
§2.2 從“光學(xué)遠(yuǎn)場(chǎng)”到“光學(xué)近場(chǎng)”
§2.3 不確定性原理（uncertainty principle）的解釋
§2.4 角譜（平面波展開）方法的解釋
§2.5 表面（納米）結(jié)構(gòu)與隱失場(chǎng)
§2.6 近場(chǎng)光學(xué)探測(cè)原理
§2.7 近場(chǎng)光學(xué)中的互易定理
§2.8 等離激元光學(xué)基本原理
§2.9 本章小結(jié)

第三章 光學(xué)天線原理
§3.1 引言
§3.2 光學(xué)天線基礎(chǔ)（介紹）
§3.3 光學(xué)天線的研究模型及方法
§3.4 光學(xué)天線的應(yīng)用
§3.5 本章小結(jié)

第四章 近場(chǎng)光學(xué)探針
§4.1 近場(chǎng)光學(xué)探針是近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡的核心器件
§4.2 近場(chǎng)光學(xué)探針的原理
§4.3 近場(chǎng)光學(xué)探針的種類
§4.4 探針與基片間的相互作用
§4.5 近場(chǎng)光學(xué)探針的應(yīng)用
§4.6 本章小結(jié)

第五章 近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)
§5.1 近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡測(cè)量系統(tǒng)
§5.2 近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡的基本結(jié)構(gòu)
§5.3 近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡的工作模式和掃描模式
§5.4 掃描管與掃描臺(tái)
§5.5 間距測(cè)控—剪切力模式與輕敲模式
§5.7 近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡的分類
§5.8 本章小結(jié)

第六章 孔徑型近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
§6.1 孔徑型SNOM的原理
§6.2 孔徑型SNOM儀器系統(tǒng)
§6.3 間距測(cè)控模式
§6.4 照明模式與集光模式
§6.5 孔徑型SNOM的分辨率
§6.6 孔徑探針使用中的問題
§6.7 孔徑型SNOM系統(tǒng)
§6.8 孔徑型SNOM的應(yīng)用
§6.9 本章小結(jié)

第七章 散射型近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
§7.1 散射型SNOM的原理
§7.2 散射型SNOM儀器系統(tǒng)
§7.3 探針測(cè)量中的增強(qiáng)效應(yīng)
§7.4 散射型SNOM的對(duì)比度和分辨率
§7.5 散射背景噪聲的抑制
§7.6 散射型探針使用中的問題
§7.7 散射型SNOM的應(yīng)用
§7.8 本章小結(jié)

測(cè)量篇
第八章 納米光場(chǎng)參數(shù)測(cè)量
§8.1 納米光場(chǎng)多參數(shù)測(cè)量的概念
§8.2 測(cè)量原理與方法
§8.3 測(cè)量系統(tǒng)與功能探針
§8.4 本章小結(jié)

第九章 強(qiáng)度測(cè)量與超分辨光學(xué)成像
§9.1 光場(chǎng)（電場(chǎng)）強(qiáng)度測(cè)量
§9.2 超衍射分辨光學(xué)成像
§9.3 納米光場(chǎng)強(qiáng)度分布測(cè)量
§9.4 聚焦徑向偏振光場(chǎng)測(cè)量
§9.5 大范圍SNOM成像
§9.6 提高SNOM成像分辨率
§9.7 近場(chǎng)光學(xué)圖像的解釋
§9.8 本章小結(jié)

第十章 振幅/相位測(cè)量
§10.1 納米光場(chǎng)振幅/相位測(cè)量發(fā)展
§10.2 近場(chǎng)探測(cè)和探針外差干涉技術(shù)
§10.3 幾種典型的光場(chǎng)相位測(cè)量方法
§10.4 一些改進(jìn)型的相位測(cè)量方法
§10.5 本章小結(jié)

第十一章 矢量場(chǎng)測(cè)量
§11.1 引言
§11.2 矢量場(chǎng)測(cè)量基礎(chǔ)
§11.3 單一電場(chǎng)分量測(cè)量
§11.4 面內(nèi)電場(chǎng)的偏振測(cè)量
§11.5 縱向及面內(nèi)電場(chǎng)的偏振測(cè)量
§11.6 全矢量場(chǎng)測(cè)量
§11.7 本章小結(jié)

第十二章 光頻磁場(chǎng)測(cè)量
§12.1 光頻磁場(chǎng)的間接測(cè)量
§12.2 光頻磁場(chǎng)的直接測(cè)量
§12.3 基于互易定理的電磁場(chǎng)測(cè)量方法
§12.4 本章小結(jié)

第十三章 近場(chǎng)光譜測(cè)量
§13.1 近場(chǎng)光譜術(shù)
§13.2 近場(chǎng)光譜測(cè)量系統(tǒng)基本結(jié)構(gòu)
§13.3 光譜成像
§13.4 近場(chǎng)光譜測(cè)量
§13.5 近場(chǎng)空間超分辨光譜
§13.6 本章小結(jié)

應(yīng)用篇
第十四章 探針增強(qiáng)光譜術(shù)
§14.1 傳統(tǒng)光譜術(shù)與“探針光譜術(shù)”
§14.2 拉曼散射與拉曼光譜術(shù)
§14.3 近場(chǎng)光譜與“探針光譜”概念
§14.4 探針增強(qiáng)拉曼光譜術(shù)（TERS）的發(fā)展
§14.5 TERS探測(cè)原理
§14.6 TERS測(cè)量系統(tǒng)
§14.7 TERS的其他關(guān)鍵技術(shù)
§14.8 TERS測(cè)量系統(tǒng)的評(píng)價(jià)
§14.9 TERS的應(yīng)用
§14.10 本章小結(jié)

第十五章 納米光源測(cè)量
§15.1 有源納米光源—小孔激光器
§15.2 等離激元納米光源
§15.3 本章小結(jié)

第十六章 等離基元光學(xué)器件的測(cè)量
§16.1 超透鏡成像測(cè)量
§16.2 SPP波導(dǎo)器件測(cè)量
§16.3 聚焦原理與聚焦器件測(cè)量
§16.4 SPP分光和反射器件測(cè)量
§16.5 納米光學(xué)天線測(cè)量
§16.6 阿基米德螺線型光學(xué)天線
§16.7 超穎材料和超穎表面
§16.8 石墨烯單層增強(qiáng)隱失場(chǎng)測(cè)量
§16.9 納米棱鏡測(cè)量
§16.10 SPP回路測(cè)量
§16.11 本章小結(jié)

第十七章 納米光學(xué)矢量場(chǎng)測(cè)量
§17.1 相位測(cè)量在納米光學(xué)中的應(yīng)用
§17.2. 相位測(cè)量在等離激元光學(xué)器件上的應(yīng)用
§17.3. 相位測(cè)量在局域表面等離激元(LSP)器件上的應(yīng)用
§17.4.相位測(cè)量在空間光場(chǎng)傳播特性中的應(yīng)用
§17.5. 相位奇異點(diǎn)與光和物質(zhì)相互作用
§17.6 矢量場(chǎng)測(cè)量在光子晶體器件上的應(yīng)用
§17.7 矢量場(chǎng)測(cè)量在SPP器件上的應(yīng)用
§17.8 矢量場(chǎng)測(cè)量在光學(xué)天線器件上的應(yīng)用
§17.9 矢量場(chǎng)測(cè)量在光場(chǎng)表征中的其他應(yīng)用
§17.10 光頻磁場(chǎng)測(cè)量的應(yīng)用
§17.11 本章小結(jié)

第十八章 結(jié)束語(yǔ)