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內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《單板級(jí)JTAG測(cè)試技術(shù)》是一本系統(tǒng)論述單板級(jí)JTAG測(cè)試技術(shù)的專著。內(nèi)容包括：基于IEEEl149．1標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描測(cè)試、可測(cè)性設(shè)計(jì)和測(cè)試功能及串行測(cè)試矢量；內(nèi)建自測(cè)試和仿真測(cè)試；基于IEEEl687標(biāo)準(zhǔn)的集成電路測(cè)試技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)。《單板級(jí)JTAG測(cè)試技術(shù)》適合于從事集成電路開發(fā)的工程技術(shù)人員閱讀，對(duì)于電子測(cè)量、通信工程和電路系統(tǒng)學(xué)科的學(xué)生，也有一定的參考作用。

作者簡(jiǎn)介

　　王承，1976生，江蘇揚(yáng)州人，博士?，F(xiàn)任職于中興通訊股份有限公司，主要從事單板級(jí)JTAG測(cè)試技術(shù)的研發(fā)、推廣和生產(chǎn)應(yīng)用工作。研究方向：集成電路測(cè)試、模式識(shí)別、人工智能和故障診斷等。劉治國，1977生，湖南益陽人，碩士?，F(xiàn)任職于工業(yè)和信息化部電子第五研究所，主要從事元器件檢測(cè)和試驗(yàn)工作。研究方向：集成電路可靠性評(píng)價(jià)和電子元器件檢測(cè)技術(shù)。

圖書目錄

第1章測(cè)試的基本概念
1.1 數(shù)字電路測(cè)試
1.1.1 測(cè)試
1.1.2 測(cè)試分類
1.1.3 數(shù)字電路分類
1.2 故障及故障模型
1.3 算法
1.4 測(cè)試覆蓋率和故障檢出率
1.5 測(cè)試矢量
1.5.1 組合電路的測(cè)試矢量生成
1.5.2 時(shí)序電路的測(cè)試矢量生成
1.6 可測(cè)性
1.6.1 可控性
1.6.2 可觀性
1.6.3 可測(cè)性設(shè)計(jì)方法
第2章單板級(jí).ITAG測(cè)試
2.1 背景介紹
2.2 傳統(tǒng)單板測(cè)試方法的困難
2.2.1 在線測(cè)試
2.2.2 光學(xué)測(cè)試
2.2.3 功能測(cè)試
2.3 生產(chǎn)制造應(yīng)用
2.4 JTAG測(cè)試技術(shù)
2.5 單板級(jí)JTAG測(cè)試
……
第3章 IEEE1149.X標(biāo)準(zhǔn)
第4章單板級(jí)邊界掃描可測(cè)性設(shè)計(jì)
第5章邊界掃描測(cè)試技術(shù)應(yīng)用
第6章串行矢量格式
第7章內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)
第8章片上仿真測(cè)試
第9章嵌入測(cè)試
參考文獻(xiàn)