電子測(cè)量原理與應(yīng)用（下冊(cè)）

前言
第3篇  系統(tǒng)的測(cè)量
第8章  測(cè)量系統(tǒng)的基本特性
8.1  概述
8.1.1  測(cè)量系統(tǒng)的定義
8.1.2  測(cè)量系統(tǒng)的響應(yīng)特性
8.2  測(cè)量系統(tǒng)的靜態(tài)特性
8.2.1  靜態(tài)特性的表征和獲取
8.2.2  靜態(tài)特性的基本參數(shù)
8.2.3  靜態(tài)特性的質(zhì)量指標(biāo)
8.3  電子測(cè)量?jī)x器的技術(shù)規(guī)范及誤差的表示方法
8.3.1  技術(shù)規(guī)范
8.3.2  工作特性及儀器誤差
8.4  測(cè)試系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)特性
8.4.1  動(dòng)態(tài)特性概述
8.4.2  描述測(cè)量系統(tǒng)動(dòng)態(tài)特性的數(shù)學(xué)模型
8.4.3  測(cè)量系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)特性參數(shù)
8.4.4  測(cè)量系統(tǒng)動(dòng)態(tài)特性的評(píng)價(jià)指標(biāo)及其測(cè)量
本章小結(jié)
思考與練習(xí)
第9章  信號(hào)源
9.1  概述
9.1.1  信號(hào)源在系統(tǒng)測(cè)量中的作用
9.1.2  信號(hào)源的分類
9.1.3  主要技術(shù)指標(biāo)
9.2  傳統(tǒng)的信號(hào)源
9.2.1  低頻信號(hào)源
9.2.2  高頻信號(hào)源
9.2.3  脈沖信號(hào)源
9.2.4  函數(shù)信號(hào)源
9.2.5  掃頻信號(hào)源
9.3  鎖相頻率合成信號(hào)源
9.3.1  合成信號(hào)源概述及直接合成原理
9.3.2  鎖相環(huán)的基本形式及鎖相頻率合成的原理
9.3.3  提高頻率分辨力的鎖相合成技術(shù)
9.3.4  擴(kuò)展輸出頻率上限的鎖相技術(shù)
9.3.5  鎖相合成信號(hào)源的實(shí)例分析
9.4  直接數(shù)字合成（DDS）信號(hào)源
9.4.1  DDS信號(hào)源的基本組成原理
9.4.2  DDS的單片集成電路
9.4.3  DDS的技術(shù)指標(biāo)及特點(diǎn)
9.4.4  DDS+PLL頻率合成信號(hào)源
9.4.5  任意波形信號(hào)源
9.4.6  合成掃頻信號(hào)源
本章小結(jié)
思考與練習(xí)
第10章  電子元器件的測(cè)量
10.1  概述
10.1.1  電子元器件的分類
10.1.2  電子元器件測(cè)量的特點(diǎn)
10.2  無(wú)源元件的阻抗測(cè)量
10.2.1  無(wú)源元件R、L、C的阻抗概述
10.2.2  電橋法
10.2.3  諧振法
10.2.4  電壓電流法
10.2.5  自動(dòng)平衡電橋
10.3  分立器件參數(shù)的測(cè)試內(nèi)容
10.4  分立器件參數(shù)的測(cè)量方法
10.4.1  電壓參數(shù)的測(cè)量
10.4.2  電流參數(shù)的測(cè)量
10.4.3  放大倍數(shù)的測(cè)量
10.4.4  阻抗參數(shù)的測(cè)量
10.5  分立器件測(cè)試儀器
10.5.1  晶體管特性圖示儀
10.5.2  分立器件綜合測(cè)試儀
本章小結(jié)
思考與練習(xí)
第11章  集成電路測(cè)試
11.1  概述
11.1.1  集成電路測(cè)試的意義
11.1.2  集成電路測(cè)試的基本原理
11.1.3  集成電路測(cè)試的分類
11.1.4  測(cè)試的主要環(huán)節(jié)
11.1.5  集成電路測(cè)試系統(tǒng)
11.2  數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)
11.2.1  概述
11.2.2  數(shù)字集成電路的參數(shù)測(cè)試
11.2.3  功能測(cè)試
11.3  模擬集成電路測(cè)試技術(shù)
11.3.1  概述
11.3.2  模擬集成電路的測(cè)試系統(tǒng)
11.3.3  線性集成運(yùn)算放大器的測(cè)試
11.4  精密測(cè)量單元PMU
11.4.1  PMU的特點(diǎn)
11.4.2  PMU的組成原理
11.4.3  PMU的技術(shù)指標(biāo)
11.4.4  PMU的應(yīng)用實(shí)例
11.5  混合集成電路測(cè)試
11.5.1  對(duì)混合信號(hào)集成電路的測(cè)試要求和系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
11.5.2  ADC、DAC測(cè)試技術(shù)簡(jiǎn)介
11.5.3  DAC測(cè)試技術(shù)
本章小結(jié)
思考與練習(xí)
第12章  線性系統(tǒng)特性測(cè)量和
網(wǎng)絡(luò)分析
12.1  線性系統(tǒng)的頻率特性測(cè)量
12.1.1  線性系統(tǒng)的頻率特性測(cè)量概述
12.1.2  幅頻特性測(cè)量
12.1.3  相頻特性測(cè)量
12.1.4  矢量電壓測(cè)量
12.1.5  掃頻儀
12.2  網(wǎng)絡(luò)分析概述
12.2.1  網(wǎng)絡(luò)分析的基本概念
12.2.2  微波的S參數(shù)
12.3  網(wǎng)絡(luò)測(cè)量原理
12.3.1  網(wǎng)絡(luò)分析儀的基本原理
12.3.2  矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
12.3.3  網(wǎng)絡(luò)分析儀的誤差來(lái)源
12.3.4  網(wǎng)絡(luò)分析儀的誤差校準(zhǔn)和修正
12.4  網(wǎng)絡(luò)測(cè)量新技術(shù)簡(jiǎn)介
12.4.1  調(diào)制矢量網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)
12.4.2  非線性矢量網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)
12.4.3  多端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)
12.5  線性系統(tǒng)的時(shí)域特性測(cè)量
12.5.1  線性系統(tǒng)時(shí)域特性概述
12.5.2  時(shí)域特性測(cè)量的實(shí)現(xiàn)
本章小結(jié)
思考與練習(xí)
部分習(xí)題參考答案
參考文獻(xiàn)