量子元胞自動機

前言
第1章 緒論
1．1 引言
1．2 量子元胞自動機
1．2．1 發(fā)展歷程
1．2．2 研究現(xiàn)狀
1．3 量子元胞自動機的應用
1．3．1 無線集成電路
1．3．2 細胞神經(jīng)網(wǎng)絡
1．3．3 量子計算機
參考文獻
第2章 量子元胞自動機基礎
2．1 器件結(jié)構(gòu)和時鐘
2．1．1 四點電性QCA器件
2．1．2 兩點電性QCA器件
2．1．3 磁性QCA器件
2．2 基本QCA電路
2．3 量子元胞自動機仿真
2．3．1 QCADesigner
2．3．2 00MMF軟件
2．4 器件制備工藝
2．4．1 電子束光刻方法
2．4．2 聚焦離子束方法
2．4．3 納米蠟紙印刷術(shù)方法
參考文獻
第3章 量子元胞自動機電路的結(jié)構(gòu)
3．1 QCA組合邏輯電路
3．1．1 電性QCA奇偶校驗系統(tǒng)
3．1．2 電性QCA不恢復余數(shù)除法器
3．1．3 電性QCA3．8 譯碼器
3．1．4 兩點電性QCA全加器電路
3．1．5 磁性QCA全加器電路
3．2 QCA時序邏輯電路
3．2．1 電性QCA模可變計數(shù)器
3．2．2 電性QCAJK觸發(fā)器和計數(shù)器
3．2．3 電性QCA雙邊沿觸發(fā)器
3．2．4 磁性QcA環(huán)形振蕩器
參考文獻
第4章 量子元胞自動機電路的缺陷
4．1 電性QCA元胞旋轉(zhuǎn)缺陷
4．1．1 含旋轉(zhuǎn)元胞缺陷的陣列建模
4．1．2 電性QCA互連結(jié)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)缺陷
4．1．3 電性QCA邏輯結(jié)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)缺陷
4．1．4 旋轉(zhuǎn)缺陷結(jié)果分析和信號恢復
4．2 磁性QCA時鐘誤放效應
4．2．1 時鐘誤放缺陷定義
4．2．2 時鐘誤放缺陷建模
4．2．3 時鐘誤放缺陷定量刻畫
4．3 電性QCA漂移電荷和串擾
4．3．1 漂移電荷效應
4．3．2 串擾效應
參考文獻
第5章 量子元胞自動機可編程陣列
5．1 QCA可編程單元
5．2 QCA可編程陣列
5．3 QCAPLA的單元胞缺陷
5．3．1 元胞缺失對PLA單元的影響
5．3．2 元胞移位缺陷對PLA單元的影響
5．3．3 元胞未對準對PLA單元的影響
5．4 QcAPLA故障分析與檢測
5．4．1 PLA故障分析
5．4．2 PLA故障檢測
5．4．3 PLA故障仿真舉例
參考文獻
第6章 量子元胞自動機電路的可靠性
6．1 概率轉(zhuǎn)移矩陣
6．2 組合電路的概率可靠性
6．2．1 QCA數(shù)值比較器可靠性
6．2．2 QCA加法器可靠性
6．3 時序電路的概率可靠性
6．3．1 QCARS觸發(fā)器
6．3．2 QCAD觸發(fā)器
6．3．3 QCAJK觸發(fā)器
6．4 QCA容錯電路實現(xiàn)
6．4．1 塊結(jié)構(gòu)容錯概念
6．4．2 容錯反相器的設計
6．4．3 容錯全加器的設計
6．5 QCA電路背景電荷效應影響
6．5．1 四點QCA電路背景電荷效應
6．5．2 兩點QCA電路背景電荷效應
參考文獻
第7章 量子元胞自動機的數(shù)據(jù)讀出接口和時鐘電路
7．1 納磁體邏輯數(shù)據(jù)讀出原理
7．2 磁性隧道結(jié)
7．2．1 數(shù)據(jù)讀出接口電路的結(jié)構(gòu)
7．2．2 片上時鐘電路
7．2．3 電信號輸出電路
7．2．4 納磁體讀出接口電路性能分析
7．3 數(shù)據(jù)讀出接口電路在單粒子效應下的可靠性研究
7．3．1 SEE敏感結(jié)點分析
7．3．2 數(shù)據(jù)讀出接口電路的SEE臨界電荷
7．3．3 入射時間和技術(shù)結(jié)點對SEE的影響
7．3．4 抗輻射加固設計
7．4 納磁體邏輯片上時鐘電路
7．4．1 片上時鐘電路結(jié)構(gòu)
7．4．2 時鐘電路功能驗證
參考文獻
第8章 量子元胞自動機實驗制備
8．1 實驗儀器和技術(shù)
8．2 直線互連結(jié)構(gòu)制備
8：2．1 實驗參數(shù)的影響
8．2．2 測試結(jié)果
8．3 拐角互連結(jié)構(gòu)制備
8．3．1 拐角互連模擬
8．3．2 實驗制備和測試
參考文獻
附錄
典型圖片展示