基于復(fù)雜數(shù)據(jù)的統(tǒng)計推斷及其應(yīng)用

第1章 緒論
1.1 測量誤差
1.2 時間序列數(shù)據(jù)
1.3 負相依數(shù)據(jù)
1.4 缺失數(shù)據(jù)
1.5 微陣列數(shù)據(jù)
第2章 核實數(shù)據(jù)下EV樣本總體估計
2.1 核實數(shù)據(jù)下均值的估計
2.2 m相依樣本基于核實數(shù)據(jù)的均值估計
2.3 核實數(shù)據(jù)下的遞歸型核密度估計
第3章 解釋變量有誤差的自回歸模型
3.1 EV自回歸模型
3.2 參數(shù)估計方法
3.3 數(shù)值模擬
3.4 定理的證明
第4章 全部變量有誤差的自回歸模型
4.1 參數(shù)估計方法
4.2 平穩(wěn)性檢驗問題
4.3 數(shù)值模擬
4.4 定理的證明
第5章 基于整值時間序列數(shù)據(jù)的風險模型
5.1 模型介紹
5.2 泊松MA（1）過程的風險模型
5.3 泊松AR（1）過程的風險模型
第6章 負相依數(shù)據(jù)下的極限理論及應(yīng)用
6.1 負相依數(shù)據(jù)部分和之和的強大數(shù)定律
6.2 負相依數(shù)據(jù)部分和之和的弱大數(shù)定律
6.3 負相依數(shù)據(jù)部分和之和的中心極限定理
6.4 誤差為NA序列變窗寬下核回歸估計
第7章 缺失數(shù)據(jù)非參數(shù)回歸函數(shù)加權(quán)核估計
7.1 引言
7.2 Priestley-Chao核估計法
7.3 主要結(jié)果
7.4 主要結(jié)果的證明
第8章 微陣列數(shù)據(jù)下的多重假設(shè)檢驗
8.1 基本概念
8.2 FWER檢驗法
8.3 FDR檢驗法
8.4 pFDR檢驗法
8.5 實例分析
參考文獻