材料結(jié)構(gòu)缺陷與性能

1 緒論
1.1 結(jié)構(gòu)缺陷理論的產(chǎn)生
1.2 晶體結(jié)構(gòu)缺陷的類(lèi)型
2 點(diǎn)缺陷的基本性質(zhì)
2.1 引言
2.2 點(diǎn)缺陷的種類(lèi)及產(chǎn)生途徑
2.2.1 點(diǎn)缺陷的種類(lèi)
2.2.2 空位、間隙質(zhì)點(diǎn)的產(chǎn)生途徑
2.2.3 晶體中熱平衡狀態(tài)點(diǎn)缺陷的基本類(lèi)型
2.3 點(diǎn)缺陷的平衡濃度
2.4 點(diǎn)缺陷的形成能
2.5 點(diǎn)缺陷的運(yùn)動(dòng)和結(jié)合
2.6 點(diǎn)缺陷的形成熵和遷移熵
2.7 金屬中的淬火空位
2.8 金屬因輻照產(chǎn)生的點(diǎn)缺陷
3 線(xiàn)缺陷的基本性質(zhì)
3.1 引言
3.1.1 位錯(cuò)理論的提出
3.1.2 位錯(cuò)理論的發(fā)展
3.2 位錯(cuò)的類(lèi)型
3.2.1 位錯(cuò)的微觀定義
3.2.2 位錯(cuò)的類(lèi)型
3.3 位錯(cuò)的伯格斯矢量
3.3.1 伯格斯回路及伯格斯矢量
3.3.2 位錯(cuò)的普遍定義
3.3.3 位錯(cuò)密度
3.4 位錯(cuò)周?chē)膽?yīng)力場(chǎng)及彈性能
3.4.1 固體彈性理論簡(jiǎn)介
3.4.2 位錯(cuò)的應(yīng)力場(chǎng)
3.4.3 位錯(cuò)的彈性能和線(xiàn)張力
3.5 位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)
3.5.1 刃位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)
3.5.2 螺位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)
3.5.3 混合位錯(cuò)的運(yùn)動(dòng)
3.5.4 位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)的阻力
3.6 位錯(cuò)的起源與增殖
3.6.1 位錯(cuò)的起源
3.6.2 位錯(cuò)的增殖機(jī)制
3.6.3 位錯(cuò)的源地和尾閭（漏洞）
3.7 位錯(cuò)的塞積
3.8 位錯(cuò)的交割
3.8.1 刃位錯(cuò)和刃位錯(cuò)的交割
3.8.2 刃位錯(cuò)和螺位錯(cuò)的交割
3.8.3 螺位錯(cuò)和螺位錯(cuò)的交割
3.9 位錯(cuò)動(dòng)力學(xué)
3.9.1 運(yùn)動(dòng)位錯(cuò)的應(yīng)力場(chǎng)及位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)的極限速度
3.9.2 位錯(cuò)速率與應(yīng)力的關(guān)系
3.10 典型晶體中的位錯(cuò)
3.10.1 面心立方晶體中的位錯(cuò)
3.10.2 有序固溶體中的位錯(cuò)
3.10.3 離子晶體中的位錯(cuò)
3.10.4 共價(jià)晶體中的位錯(cuò)
3.10.5 層狀結(jié)構(gòu)中的位錯(cuò)
3.10，6聚合物晶體中的位錯(cuò)
3.11 位錯(cuò)的實(shí)驗(yàn)觀測(cè)
3.11.1 侵蝕坑法
3.11.2 綴飾法
3.11.3 透射電鏡法
3.11.4 X射線(xiàn)衍襯像法
3.11.5 場(chǎng)離子顯微鏡觀察法
4 面缺陷的基本性質(zhì)
4.1 引言
4.2 小角度晶界
4.3 大角度晶界
4.4 相界
4.5 單相多晶體中的晶粒形狀
5 缺陷間的交互作用
5.1 點(diǎn)缺陷與位錯(cuò)的交互作用
5.2 位錯(cuò)與位錯(cuò)間的交互作用
5.2.1 一般應(yīng)力場(chǎng)對(duì)位錯(cuò)的作用力
5.2.2 平行位錯(cuò)之間的交互作用
5.2.3 位錯(cuò)塞積群應(yīng)力場(chǎng)的計(jì)算
5.2.4 位錯(cuò)間的近程互作用
5.3 位錯(cuò)與面缺陷的交互作用
6 結(jié)構(gòu)缺陷對(duì)材料力學(xué)性能的影響
6.1 晶體的軟硬實(shí)質(zhì)
6.2 三類(lèi)晶體的屈服現(xiàn)象
6.3 流變應(yīng)力與位錯(cuò)密度
6.4 加工硬化
6.5 固溶強(qiáng)化
6.5.1 均勻固溶強(qiáng)化機(jī)制
6.5.2 不均勻固溶強(qiáng)化機(jī)制
6.6 晶體的斷裂
6.7 合金中第二相強(qiáng)化
6.8 高溫強(qiáng)度的位錯(cuò)理論
6.9 疲勞強(qiáng)度的位錯(cuò)理論
6.10 多晶材料的晶界強(qiáng)化機(jī)制
7 結(jié)構(gòu)缺陷對(duì)材料物理性能的影響
7.1 缺陷與晶體的電學(xué)性能
7.2 缺陷與半導(dǎo)體性能
7.3 缺陷與離子晶體物理性能
7.4 缺陷與磁學(xué)性能
參考文獻(xiàn)