材料科學(xué)研究與測(cè)試方法（第2版）

1 晶體學(xué)基礎(chǔ)
1.1 晶體及其基本性質(zhì)
1.1.1 晶體的概念
1.1.2 空間點(diǎn)陣的四要素
1.1.3 布拉菲陣胞
1.1.4 典型晶體結(jié)構(gòu)
1.1.5 晶體的基本性質(zhì)
1.1.6 準(zhǔn)晶體簡(jiǎn)介
1.2 晶向、晶面及晶帶
1.2.1 晶向及其表征
1.2.2 晶面及其表征
1.2.3 晶帶及其表征
1.3 晶體的宏觀對(duì)稱及點(diǎn)群
1.3.1 對(duì)稱的概念
1.3.2 對(duì)稱元素及對(duì)稱操作
1.3.3 對(duì)稱元素的組合及點(diǎn)群
1.3.4 晶體的分類
1.3.5 準(zhǔn)晶體的點(diǎn)群及其分類
1.3.6 點(diǎn)群的國(guó)際符號(hào)
1.3.7 點(diǎn)群的圣佛利斯符號(hào)
1.4 晶體的微觀對(duì)稱與空間群
1.4.1 晶體的微觀對(duì)稱
1.4.2 晶體的空間群及其符號(hào)
1.5 晶體的投影
1.5.1 球面投影
1.5.2 極式網(wǎng)與烏氏網(wǎng)
1.5.3 晶帶的極射赤面投影
1.5.4 標(biāo)準(zhǔn)極射赤面投影圖（標(biāo)準(zhǔn)極圖）
1.6 倒易點(diǎn)陣
1. 6.1 正點(diǎn)陣
1.6.2 倒點(diǎn)陣（倒易點(diǎn)陣）
1.6.3 正倒空間之間的關(guān)系
1.6.4 倒易矢量的基本性質(zhì)
1.6.5 晶帶定律
1.6.6 廣義晶帶定律
本章小結(jié)
思考題
2 X射線的物理基礎(chǔ)
3 X射線的衍射原理
4 X射線的多晶衍射分析及其應(yīng)用
5 電子顯微分析的基礎(chǔ)
6 透射電子顯微鏡
7 薄晶體的高分辨像
8 掃描電子顯微鏡及電子探針
9 表面分析技術(shù)
10 熱分析技術(shù)
11 紅外光譜和拉曼光譜
附錄
參考文獻(xiàn)