綜合孔徑成像原理與應(yīng)用

第1章 綜合孔徑成像技術(shù)導(dǎo)論
1.1 綜合孔徑成像技術(shù)概述
1.2 綜合孔徑成像技術(shù)原理
1.2.1 光學(xué)綜合孔徑成像原理
1.2.2 被動毫米波綜合孔徑成像原理
1.3 綜合孔徑成像技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀
1.3.1 光學(xué)綜合孔徑成像技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀
1.3.2 被動毫米波綜合孔徑成像技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀
1.4 綜合孔徑成像系統(tǒng)關(guān)鍵技術(shù)
1.4.1 陣列優(yōu)化和設(shè)計(jì)
1.4.2 相位誤差和校正
1.4.3 圖像重構(gòu)和圖像復(fù)原
第2章 綜合孔徑成像基礎(chǔ)
2.1 數(shù)學(xué)基礎(chǔ)
2.1.1 卷積和相關(guān)
2.1.2 傅里葉變換
2.1.3 線性系統(tǒng)分析
2.2 物理基礎(chǔ)
2.2.1 非相干光學(xué)成像系統(tǒng)
2.2.2 范西特一澤尼克定理
2.2.3 被動輻射測量基礎(chǔ)
第3章 光學(xué)綜合孔徑直接成像系統(tǒng)
3.1 基本原理
3.1.1 等效模型
3.1.2 特征指標(biāo)
3.2 陣列優(yōu)化和設(shè)計(jì)
3.2.1 典型陣列結(jié)構(gòu)
3.2.2 多圓周陣列結(jié)構(gòu)
3.2.3 多圓周陣列的優(yōu)化
3.3 相位誤差和校正
3.3.1 光束合成誤差分析
3.3.2 冗余基線校正方法
3.3.3 一維RSC陣列的優(yōu)化
3.3.4 圓周RSC陣列的優(yōu)化
3.4 圖像復(fù)原
3.4.1 經(jīng)典圖像復(fù)原法
3.4.2 圖像質(zhì)量評價方法
3.4.3 維納濾波法在光學(xué)綜合孔徑中的應(yīng)用
3.5 實(shí)驗(yàn)研究
3.5.1 模擬實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)
3.5.2 望遠(yuǎn)鏡光闌實(shí)驗(yàn)
3.5.3 冗余基線校正模板實(shí)驗(yàn)
3.5.4 光學(xué)綜合孔徑遙感系統(tǒng)
3.6 本章小結(jié)
第4章 被動毫米波綜合孔徑成像系統(tǒng)
4.1 基本原理
4.1.1 被動綜合孔徑干涉成像原理
4.1.2 被動綜合孔徑光子成像原理
4.1.3 光子成像系統(tǒng)主要性能分析
4.2 陣列設(shè)計(jì)和優(yōu)化
4.2.1 引言
4.2.2 優(yōu)化基礎(chǔ)
4.2.3 優(yōu)化準(zhǔn)則
4.2.4 優(yōu)化算法
4.2.5 優(yōu)化結(jié)果
4.3 相位誤差和校正
4.3.1 閉合相位校正
4.3.2 載波干涉校正技術(shù)
4.3.3 基于光子晶體的全息相位校正技術(shù)
4.4 重構(gòu)成像算法
4.4.1 引言
4.4.2 Gridding算法
4.4.3 CLEAN算法
4.5 實(shí)驗(yàn)研究
4.5.1 基于光纖傳輸?shù)亩缮鎸?shí)驗(yàn)
4.5.2 基于光纖傳輸?shù)暮撩撞ㄌ綔y實(shí)驗(yàn)
4.6 本章小結(jié)
第5章 綜合孔徑成像技術(shù)展望
5.1 被動綜合孔徑寬帶成像技術(shù)
5.2 被動毫米波直接電光調(diào)制技術(shù)
5.3 超分辨率處理與多光譜融合技術(shù)
5.4 復(fù)合相位誤差測量與校正技術(shù)
5.5 多孔密瞳光學(xué)陣列
5.6 壓縮感知綜合孔徑成像技術(shù)
參考文獻(xiàn)