核輻射探測及核技術(shù)應用實驗

前言
基礎篇
緒論
第一章 數(shù)理統(tǒng)計概念
第二章 測量數(shù)據(jù)的處理
第三章 實驗室總體布置
第四章 核輻射防護基本知識
上篇
實驗1 核輻射探測系統(tǒng)及測量儀表
實驗2 G-M計數(shù)管的信息傳送和放大
實驗3 放射性現(xiàn)象的統(tǒng)計特征
實驗4 a射線在空氣中的吸收
實驗5 Nal（ Tl）閃爍探測器的組成及其“坪”曲線的測定
實驗6 Nal（ Tl）閃爍譜儀測定γ射線譜及能量刻度
實驗7 γ輻射儀的標定
實驗8 γ射線在物質(zhì)中的吸收
實驗9 鈾礦床（模型）的勘探
實驗10 正比計數(shù)器測定元素X射線譜
實驗11 康普頓一吳有訓散射譜與散射角的關系
實驗12 等效密度測定（骨密度計）
實驗13 鍍層、涂層厚度的X射線熒光測量方法
下篇
實驗14 直流高壓獲取與性能測試
實驗15 線性脈沖放大電路的仿真
實驗16 平方反比定律的驗證
實驗17　CMOS單道脈沖幅度分析器
實驗18 釷射氣220 Rn半衰期及衰變常數(shù)的測定
實驗19 β射線在物質(zhì)中的吸收
實驗20 γ射線穿過物質(zhì)時儀器譜成分的變化
實驗21 散射料位測量
實驗22 γ射線反散射譜的影響因素
實驗23 半導體探測器γ譜儀
實驗24 熱釋光測量原理及最佳測試條件的選擇
實驗25 BF3中子計數(shù)器及中子場分布
實驗26 天然放射性方法測定礦石中的鈾含量
實驗27 正比計數(shù)器工作狀態(tài)的選擇
實驗28 能量色散X熒光分析技術(shù)--譜測量與分析
實驗29 Si（ Li）半導體探測器
實驗30 X射線管-Si-PIN X射線譜儀特性研究
實驗31 輕元素薄膜厚度測量
實驗32 吸收法料位測量
實驗33 γ散射法探測介質(zhì)內(nèi)部缺陷
實驗34 水中泥沙含量測定
實驗35 中子活化反應及生成核素半衰期測定
研究性實驗
實驗36 覆蓋層下圖像的研究
實驗37 工業(yè)CT初探及圖象重建
實驗38 活性炭吸附測環(huán)境中的氡濃度
實驗39 增量法作單元素X射線熒光分析
實驗40 蒙特卡羅方法模擬γ射線穿過物質(zhì)時譜成分的變化
附錄
附錄A 元素周期表
附錄B 元素吸收限及特征X射線能量
附錄C 天平的使用
附錄D 長度的測量
附錄E 低功率高電壓的測量