ATC 001電感耦合等離子體發(fā)射光譜分析技術(shù)

1 基礎(chǔ)理論知識 1.1 概況 1.1.1 ICP-AES分析技術(shù)的發(fā)展 1.1.2 等離子體發(fā)射光譜的概念 1.1.3 ICP-AES法的分析特性和應(yīng)用范圍 1.2 原子發(fā)射光譜基礎(chǔ)知識 1.2.1 光譜 1.2.2 原子光譜 1.2.3 原子發(fā)射光譜的基本術(shù)語 1.2.4 原子發(fā)射光譜定性分析 1.2.5 原子發(fā)射光譜定量分析 1.3 ICP-AES法的基本原理 1.3.1 ICP裝置的原理 1.3.2 ICP-AES分析的主要干擾及其消除 1.3.3 ICP分析中的特征值--靈敏度、檢出限和定量限 1.3.4 ICP-AES分析性能小結(jié) 1.4 ICP-AES分析技術(shù)的發(fā)展 1.4.1 ICP-AES儀器的發(fā)展 1.4.2 檢出限和儀器測量精密度不斷改善和提高 1.4.3 全譜直讀型儀器的發(fā)展 1.4.4 ICP-AES分析技術(shù)的進展 1.5 參考資料 1.6 思考題2 ICP-AES分析儀器設(shè)備與操作 2.1 ICP-AES光譜儀的組成 2.1.1 高頻發(fā)生器 2.1.2 炬管、工作氣體和氣路 2.1.3 進樣系統(tǒng) 2.1.4 光學(xué)系統(tǒng) 2.1.5 測量系統(tǒng) 2.1.6 計算機系統(tǒng) 2.2 ICP儀器工作參數(shù)的設(shè)定 2.2.1 分析譜線的特性 2.2.2 工作氣體流速 2.2.3 觀測高度 2.2.4 高頻發(fā)生器功率 2.2.5 測定條件的優(yōu)化 2.2.6 常用工作參數(shù) 2.3 ICP-AES光譜儀的使用 2.3.1 日常分析操作 2.3.2 ICP光譜儀使用要求及注意事項 2.4 ICP光譜儀的維護 2.5 ICP光譜儀器的校準和期間核查 2.5.1 儀器校準 2.5.2 期間核查 2.6 思考題3 ICP-AES分析方法標準與應(yīng)用 3.1 ICP-AES分析方法通則(示例) 3.2 ICP-AES分析的樣品處理 3.2.1 分析樣品的取制樣 3.2.2 分析試液的制備 3.3 標準樣品與標準工作曲線 3.3.1 標準樣品 3.3.2 標準溶液與標準方法 3.3.3 標準工作曲線 3.4 ICP-AES分析方法標準與應(yīng)用實例 3.4.1 在鋼鐵分析中的應(yīng)用 3.4.2 在鐵礦石及冶金物料分析上的應(yīng)用 3.4.3 在有色金屬材料分析上的應(yīng)用 3.4.4 在巖礦、土壤及地球化學(xué)樣品分析上的應(yīng)用 3.4.5 在煤焦產(chǎn)品分析上的應(yīng)用 3.4.6 在水質(zhì)及環(huán)境領(lǐng)域分析上的應(yīng)用 3.4.7 在食品(包括動植物、中草藥樣品)分析上的應(yīng)用 3.4.8 在石油、化工分析上的應(yīng)用 3.4.9 在核工業(yè)分析上的應(yīng)用 3.4.10 在其他領(lǐng)域的應(yīng)用 3.5 參考資料 3.6 思考題4 ICP光譜分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理 4.1 概述 4.1.1 分析數(shù)據(jù)的特點 4.1.2 光譜分析數(shù)據(jù)的特點 4.1.3 光譜分析數(shù)據(jù)的統(tǒng)計處理內(nèi)容 4.2 光譜分析結(jié)果的誤差分析 4.2.1 誤差分析的基本概念 4.2.2 光譜分析誤差的來源 4.2.3 光譜干擾對測定誤差的影響及其干擾校正 4.3 光譜分析數(shù)據(jù)的統(tǒng)計處理 4.3.1 評價測定結(jié)果常用的幾個術(shù)語 4.3.2 數(shù)據(jù)可靠性檢驗 4.3.3 分析數(shù)據(jù)的數(shù)字修約規(guī)則 4.3.4 校正曲線的回歸分析 4.4 光譜分析中的不確定度 4.4.1 化學(xué)分析中的不確定度問題 4.4.2 不確定度的定義 4.4.3 不確定度的分類及其表示方法 4.4.4 各類不確定度的計算方法 4.4.5 估計不確定度的方法 4.4.6 ICP光譜分析中不確定度的計算 4.5 參考資料 4.6 思考題附錄1 常用單元素標準溶液配制方法附錄2 常用ICP發(fā)射光譜分析譜線與檢出限表附錄3 典型型號ICP光譜儀器示例附錄4 標準代碼表附錄5 ICP-AES光譜分析標準及規(guī)程目錄