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基于SRAM的FPGA容錯(cuò)技術(shù)

基于SRAM的FPGA容錯(cuò)技術(shù)

定　價(jià)：￥45.00

作　者： （巴西）卡斯騰斯密得，（巴西）卡羅，（巴西）賴斯 著；楊孟飛 等譯
出版社： 中國宇航出版社
叢編項(xiàng)： `
標(biāo)　簽： 操作系統(tǒng)/系統(tǒng)開發(fā)
ISBN： 9787802186187 出版時(shí)間： 2009-12-01 包裝： 精裝
開本： 大32開 頁數(shù)： 188 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡介

　　廣泛應(yīng)用于民用和工業(yè)領(lǐng)域的基于SRAM的FPGA，因其邏輯集成度高、使用方便、開發(fā)成本低且能夠被重新編程，正逐步應(yīng)用于空間領(lǐng)域?？臻g領(lǐng)域的應(yīng)用除了要求其具有很高的可靠性以外，抗輻射是必須重點(diǎn)考慮的問題。本書針對(duì)這種需求，尤其是針對(duì)空間環(huán)境中單粒子效應(yīng)的影響，詳細(xì)介紹了基于SRAM的FPGA這種可編程結(jié)構(gòu)的多種容錯(cuò)技術(shù)和方法。本書提及的技術(shù)和方法多是從實(shí)際容錯(cuò)系統(tǒng)中總結(jié)出來的，并進(jìn)行了歸類、分析和總結(jié)，同時(shí)附有參考文獻(xiàn)。內(nèi)容詳盡豐富，實(shí)踐性和針對(duì)性強(qiáng)，可作為從事容錯(cuò)計(jì)算和空間電子系統(tǒng)研究和設(shè)計(jì)人員的參考用書。

作者簡介

　　費(fèi)爾南達(dá)·古斯芒·德·利馬·卡斯騰斯密得，是位于巴西阿雷格里港（Porlto Alegre）的南大河洲聯(lián)邦大學(xué)（UFRGS）計(jì)算機(jī)科學(xué)系的教授。1997年，她從巴西阿雷格里港南大河洲聯(lián)邦大學(xué)獲電氣工程學(xué)學(xué)士學(xué)位，1999年和2003年分別獲計(jì)算機(jī)科學(xué)碩士學(xué)位和微電子學(xué)博士學(xué)位。1999年，她曾工作于法國的格勒諾布爾（Grenoble）國家理工學(xué)院（INPG）；2001年，工作于美國圣何塞（San Jose）的賽靈思（Xilinx）公司。她的研究興趣包括超大規(guī)模集成電路（VLSI）測試和設(shè)計(jì)、故障效應(yīng)、容錯(cuò)技術(shù)和可編程結(jié)構(gòu)。她是美國電氣和電子工程師協(xié)會(huì)（IEEE）的會(huì)員。路易吉·卡羅，1962年出生于巴西的阿雷格里港，分別于1985年和1989年從巴西南大河洲聯(lián)邦大學(xué)獲電氣工程學(xué)學(xué)士和碩士學(xué)位。1989年～1991年，他就職于意大利阿格雷特（Agrate）的ST微電子研發(fā)小組，1996年獲巴西南大河洲聯(lián)邦大學(xué)計(jì)算機(jī)科學(xué)系的博士學(xué)位。目前他是南大河洲聯(lián)邦大學(xué)電氣工程系講師，負(fù)責(zé)向研究生和本科生講授數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)和數(shù)字信號(hào)處理學(xué)科。他也是該大學(xué)計(jì)算機(jī)科學(xué)研究生計(jì)劃的成員，負(fù)責(zé)嵌入式系統(tǒng)、數(shù)字信號(hào)處理和VLSI設(shè)計(jì)的課程。他主要的研究興趣包括混合信號(hào)設(shè)計(jì)、數(shù)字信號(hào)處理、混合信號(hào)和模擬測試及快速系統(tǒng)原型。他已針對(duì)這些主題發(fā)表了90多篇專業(yè)論文，著有《數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)和原型》（葡萄牙語）一書。里卡多·賴斯，是巴西南大河洲聯(lián)邦大學(xué)信息研究所教授。1978年，他從巴西阿雷格里港南大河洲聯(lián)邦大學(xué)獲電氣工程學(xué)學(xué)士學(xué)位。1983年，他從法國格勒諾布爾國家理工學(xué)院獲計(jì)算機(jī)科學(xué)和微電子系的博士學(xué)位。他的主要研究興趣包括VLSI設(shè)計(jì)及CAD、物理設(shè)計(jì)、設(shè)計(jì)方法學(xué)和容錯(cuò)技術(shù)。他在期刊和會(huì)議上發(fā)表專業(yè)論文200多篇，同時(shí)出版了一些專著。他曾任巴西計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì)的會(huì)長，巴西微電子學(xué)會(huì)的副會(huì)長。他是國際信息處理聯(lián)盟（IFIP）的副主席曾獲IFIP的銀質(zhì)獎(jiǎng)?wù)隆Ｋ恰都呻娐芳跋到y(tǒng)》雜志（JICS）的主編。里卡多也是IEEE計(jì)算機(jī)設(shè)計(jì)與測試的拉美聯(lián)絡(luò)員。他還是幾個(gè)學(xué)術(shù)會(huì)議的“組織和程序”委員會(huì)委員，是“集成電路及系統(tǒng)設(shè)計(jì)研討會(huì)”（SBCCI）系列論壇的發(fā)起人之一。他是IEEE的會(huì)員。

圖書目錄

第1章 引言
第2章 集成電路中的輻射效應(yīng)
　2.1 輻射環(huán)境概述
　2.2 集成電路中的輻射效應(yīng)
　　2.2.1 SEU的分類
　2.3 基于SRAM的FPGA的特有影響
第3章 單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)減緩技術(shù)
　3.1 基于設(shè)計(jì)的技術(shù)
　　3.1.1 檢測技術(shù)
　　3.1.2 減緩技術(shù)
　3.2 ASIC中SEU減緩技術(shù)實(shí)例
　3.3 FPGA中SEU減緩技術(shù)實(shí)例
　　3.3.1 基于反熔絲的FPGA
　　3.3.2 基于SRAM的FPGA
第4章 結(jié)構(gòu)層SEU減緩技術(shù)
第5章 高層SEU減緩技術(shù)
　5.1 針對(duì)FPGA的三模冗余技術(shù)
　5.2 刷新
第6章 三模冗余(TMR)的健壯性
　6.1 測試設(shè)計(jì)方法
　6.2 FPGA位流中的故障注入
　6.3 設(shè)計(jì)布局中翻轉(zhuǎn)的定位
　　6.3.1 矩陣中位列的位置
　　6.3.2 矩陣中位行的位置
　　6.3.3 CLB中位的位置
　　6.3.4 位分類
　6.4 故障注人結(jié)果
　6.5 “金”片(“Golden”Chip)方法
第7章 TMR微控制器的設(shè)計(jì)和測試
　7.1 面積和性能結(jié)果
　7.2 TMR8051微控制器輻射的地面測試結(jié)果
第8章 減少TMR開銷：第一部分
　8.1 結(jié)合時(shí)間冗余的雙備份比較
　8.2 VHDL描述中的故障注入
　8.3 面積和性能
第9章 減少TMR開銷：第二部分
　9.1 算術(shù)類電路的DWC—CED技術(shù)
　　9.1.1 使用基于硬件冗余的CED技術(shù)
　　9.1.2 使用基于時(shí)間冗余的CED技術(shù)
　　9.1.3 選擇最合適的CED模塊
　　9.1.4 故障覆蓋率結(jié)果
　　9.1.5 面積和性能結(jié)果
　9.2 非算術(shù)電路中的DWC-CED設(shè)計(jì)技術(shù)
第10章 總結(jié)與展望
縮寫詞中英文對(duì)照
參考文獻(xiàn)

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