光電檢測(cè)技術(shù)與系統(tǒng)（第2版）

第1章 緒論
1．1 光電檢測(cè)系統(tǒng)的基本工作原理
1．2 光電檢測(cè)技術(shù)的主要應(yīng)用范圍
1．3 光電檢測(cè)技術(shù)的現(xiàn)代發(fā)展
習(xí)題與思考題
第2章 光電檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)
2．1 檢測(cè)量的誤差及數(shù)據(jù)處理
2．1．1 檢測(cè)過(guò)程及誤差分類
2．1．2 隨機(jī)誤差
2．1．3 系統(tǒng)誤差
2．2 輻射度量與光度量基礎(chǔ)
2．2．1 輻射度量
2．2．2 光度量
2．2．3 朗伯輻射體及其輻射特性
2．3 光電檢測(cè)器件的特性參量
2．3．1 響應(yīng)度
2．3．2 噪聲及其評(píng)價(jià)參數(shù)
習(xí)題與思考題
第3章 光源及輻射源
3．1 光源選擇的基本要求和光源的分類
3．2 熱光源
3．2．1 黑體及黑體光強(qiáng)標(biāo)準(zhǔn)器
3．2．2 白熾燈
3．2．3 其他
3．3 氣體放電光源
3．3．1 開(kāi)放式氣體放電光源
3．3．2 氣體燈
3．4 固體發(fā)光光源
3．4．1 電致發(fā)光屏
3．4．2 發(fā)光二極管
3．5 激光光源
3．5．1 氣體激光器
3．5．2 固體激光器
3．5．3 可調(diào)諧染料激光器
3．5．4 半導(dǎo)體激光器
3．6 新型電調(diào)制紅外光源
習(xí)題與思考題
第4章 光電探測(cè)器及其校正技術(shù)
4．1 概述
4．2 光電倍增管
4．3 光電導(dǎo)器件
4．4 光電池和光電二極管
4．5 CCD圖像傳感器的工作原理
4．6 熱電探測(cè)器
4．7 光電探測(cè)器的校正
4．7．1 變光度的實(shí)現(xiàn)
4．7．2 漫射體及其在光電檢測(cè)中的應(yīng)用
4．7．3 光譜校正及應(yīng)用
習(xí)題與思考題
第5章 光學(xué)系統(tǒng)及專用光學(xué)元件
5．1 光電檢測(cè)中的光學(xué)系統(tǒng)
5．2 常用物鏡簡(jiǎn)介
5．3 探測(cè)器輔助光學(xué)系統(tǒng)
5．4 光電檢測(cè)中的計(jì)量部件
5．4．1 計(jì)量光柵
5．4．2 電子細(xì)分技術(shù)的基本原理
5．4．3 光學(xué)碼盤及編碼
5．5 角反射器與極性分析器
習(xí)題與思考題
第6章 光電信號(hào)的變換及檢測(cè)技術(shù)
6．1 光電信號(hào)檢測(cè)電路的噪聲
6．1．1 噪聲的分類及性質(zhì)
6．1．2 主要的噪聲類型
6．1．3 噪聲等效參量
6．1．4 前置放大器的噪聲
6．2 前置放大器
6．3 常用電路介紹
6．3．1 選頻放大器
6．3．2 相敏檢波器(相敏整流器、相敏解調(diào)器)
6．3．3 相位檢測(cè)器(鑒相器)
6．3．4 鑒頻器
6．3．5 脈寬鑒別器
6．3．6 積分，微分運(yùn)算器
6．3．7 鎖相環(huán)及鎖相放大器
6．4 光電技術(shù)中的調(diào)制技術(shù)
6．4．1 一般光電信號(hào)的調(diào)制
6．4．2 專用調(diào)制盤
6．4．3 利用物理光學(xué)原理實(shí)現(xiàn)的光調(diào)制技術(shù)
習(xí)題與思考題
第7章 光纖技術(shù)及應(yīng)用
7．1 光學(xué)纖維的基本工作原理及分類
7．1．1 光纖的基本工作原理及分類
7．1．2 主要的光纖制品
7．1．3 光纖的耦合
7．2 光纖器件主要參量的光電檢測(cè)
7．2．1 光纖器件數(shù)值孔徑的測(cè)量
7．2．2 光纖器件透射比的測(cè)量
7．2．3 光纖器件刀口響應(yīng)的測(cè)量
7．2．4 光纖器件色散特性的測(cè)量
7．3 光纖制品的一般應(yīng)用
7．3．1 光纖通信
7．3．2 光纖在直接導(dǎo)光方面的應(yīng)用
7．3．3 光纖制品在傳像方面的應(yīng)用
7．4 智能光纖傳感技術(shù)
7．4．1 智能結(jié)構(gòu)
7．4．2 光纖傳感器在智能結(jié)構(gòu)中的應(yīng)用
7．4．3 光纖智能結(jié)構(gòu)的應(yīng)用
7．5 光纖傳感器及其應(yīng)用
7．5．1 光纖傳感器的優(yōu)點(diǎn)及類型
7．5．2 光強(qiáng)調(diào)制型光纖傳感器
7．5．3 相位干涉型光纖傳感器
7．5．4 偏振態(tài)型光纖傳感器
7．5．5 分布式光纖傳感器
7．5．6 用于構(gòu)成分布式光纖傳感器的主要技術(shù)
7．5．7 其他光纖傳感器及應(yīng)用
習(xí)題與思考題
第8章 非光物理量的光電檢測(cè)
8．1 光強(qiáng)型光電檢測(cè)系統(tǒng)
8．1．1 直接測(cè)量法
8．1．2 差動(dòng)測(cè)量法
8．1．3 補(bǔ)償測(cè)量法
8．1．4 補(bǔ)償式軸徑檢測(cè)裝置
8．1．5 利用比較法檢測(cè)透明薄膜的厚度
8．1．6 利用α射線測(cè)量塊規(guī)厚度的裝置
8．1．7 圓形物體偏心度的光電檢測(cè)
8．1．8 利用補(bǔ)償法測(cè)量線材直徑
8．1．9 對(duì)圓柱形零件的外觀檢查
8．2 脈沖型光電檢測(cè)系統(tǒng)
8．2．1 物體長(zhǎng)度分檢裝置原理
8．2．2 液位高度控制器
8．2．3 光電探測(cè)信號(hào)碼的工作原理
8．2．4 氣體流量自動(dòng)檢控裝置
8．2．5 利用測(cè)量脈沖頻率測(cè)定轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)速
8．2．6 利用脈沖持續(xù)時(shí)間測(cè)定零件尺寸
8．2．7 全脈沖法測(cè)定零件尺寸
8．2．8 光柵數(shù)字測(cè)徑儀
8．2．9 脈沖激光測(cè)距
8．3 相位型和頻率型光電檢測(cè)系統(tǒng)
8．3．1 激光相位測(cè)距法
8．3．2 激光光波比長(zhǎng)儀
8．3．3 雙頻激光干涉測(cè)長(zhǎng)系統(tǒng)
8．3．4 激光流速計(jì)
8．4 利用物理光學(xué)原理的光電檢測(cè)系統(tǒng)
8．4．1 利用衍射測(cè)量細(xì)絲的直徑
8．4．2 利用全反射檢測(cè)液面的裝置
8．4．3 利用偏振光全反射檢測(cè)液面的裝置
8．4．4 利用雙折射和干涉原理的測(cè)力計(jì)
8．5 其他光電檢測(cè)系統(tǒng)
8．5．1 利用示波器檢測(cè)線材直徑的方案
8．5．2 光電跟蹤裝置的工作原理
8．5．3 石英沙色選機(jī)
習(xí)題與思考題
第9章 現(xiàn)代光電檢測(cè)技術(shù)與系統(tǒng)
9．1 光譜儀器
9．1．1 單色光的產(chǎn)生
9．1．2 光譜儀器的分類
9．1．3 分光光度計(jì)
9．1．4 傅里葉變換光譜儀
9．1．5 成像光譜儀
9．2 光度量和輻射度量檢測(cè)技術(shù)
9．2．1 照度的測(cè)量
9．2．2 亮度的測(cè)量
9．2．3 輻射測(cè)量與測(cè)溫
9．3 莫爾形貌(等高線)測(cè)試技術(shù)
9．3．1 照射型莫爾法
9．3．2 投影型莫爾法
9．3．3 莫爾條紋級(jí)次與凹凸判斷
9．3．4 幾何可測(cè)深度
9．4 條形碼技術(shù)
9．5 三角法測(cè)試技術(shù)
9．5．1 三角法測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)
9．5．2 三角法測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用
9．6 光電圖像檢測(cè)技術(shù)
9．6．1 圖像的預(yù)處理技術(shù)
9．6．2 光電圖像檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用
習(xí)題與思考題
參考文獻(xiàn)