微分析物理及其應(yīng)用

前言
緒論
　0.1 微分析學(xué)科的發(fā)展
　0.2 學(xué)術(shù)交流的發(fā)展
　0.3 學(xué)科期刊的發(fā)展
　0.4 本書內(nèi)容的安排
　參考文獻(xiàn)
第1章 有關(guān)的基礎(chǔ)物理知識(shí)
　1.1 有關(guān)的原子物理知識(shí)
　1.2 有關(guān)的固體物理知識(shí)
　1.3 有關(guān)的晶體衍射物理知識(shí)
　參考文獻(xiàn)
第2章 入射電子的彈性散射和非彈性散射
　2.1 處理入射電子散射的量子力學(xué)方程
　2.2 入射電子的微分彈性散射截面
　2.3 入射電子的非彈性散射
　2.4 原子對(duì)電子的散射截面和散射平均自由程
　2.5 阻止本領(lǐng)和非彈性散射截面
　2.6 介電函數(shù)方法
　2.7 低能電子的非彈性散射平均自由程
　2.8 低能電子的非彈性散射和能帶結(jié)構(gòu)的閾值效應(yīng)
　參考文獻(xiàn)
第3章 電子束顯微分析
　3.1 掃描電子顯微鏡的主體結(jié)構(gòu)與成像原理
　3.2 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的分辨率
　3.3 掃描電子顯微鏡的信號(hào)
　3.4 SEM中二次電子和背散射電子信號(hào)的采集及其能譜
　3.5 透射電子顯微鏡（TEM）中顯微像和衍射圖樣的獲得
　3.6 透射電子顯微鏡（TEM）的主要部件和成像模式
　3.7 掃描電子顯微像的形貌襯度
　3.8 SEM中晶體取向的測(cè)定
　3.9 X射線能譜（EDS）和波譜（WDS）分析
　3.10 SEM中厚樣品微區(qū)成分分析方法
　3.11 TEM中薄膜微區(qū)成分EDS定量分析方法
　3.12 薄膜微區(qū)成分的電子能量損失譜（EEl。S）定量分析
　3.13 微區(qū)成分分析的空間分辨率和探測(cè)限
　參考文獻(xiàn)
第4章 固體中電子散射的蒙特卡羅模擬
　4.1 蒙特卡羅方法簡(jiǎn)介
　4.2 蒙特卡羅方法的基本原理和一般步驟
　4.3 由已知概率分布進(jìn)行的隨機(jī)抽樣
　4.4 隨機(jī)數(shù)與贗隨機(jī)數(shù)
　4.5 蒙特卡羅模擬固體中的電子散射
　4.6 蒙特卡羅模擬固體中電子散射的一些結(jié)果
　參考文獻(xiàn)
第5章 電子顯微像的像差和分辨率
　5.1 成像原理中常用的傅里葉變換和卷積公式
　5.2 透射電子束成像
　5.3 磁透鏡的像差
　5.4 瑞利判據(jù)決定的顯微像的分辨率
　5.5 由電子束直徑?jīng)Q定的掃描電子顯微鏡的分辨率
　5.6 圖像襯度（對(duì)比度）決定的顯微鏡分辨率
　5.7 信息通過量密度決定的顯微鏡分辨率
　5.8 分辨率的實(shí)驗(yàn)測(cè)量
　5.9 離子顯微鏡的分辨率
　參考文獻(xiàn)
第6章 電子顯微像的襯度
　6.1 電子束的相干性和衍射振幅襯度
　6.2 晶態(tài)和非晶態(tài)樣品的襯度
　6.3 衍射（振幅）襯度像
　6.4 樣品的質(zhì)厚襯度和STEM中的2襯度　
　6.5 SEM中的各種不相干信號(hào)的襯度
　參考文獻(xiàn)
第7章 高分辨透射電子顯微像
　7.1 高分辨電子顯微像（HREM）的形成
　7.2 高分辨像形成過程中的襯度傳遞函數(shù)
　7.3 高分辨像的點(diǎn)分辨率和信息分辨率
……
第8章 分析表現(xiàn)的電子顯微術(shù)
第9章 掃描探針顯微術(shù)
第10章 入射離子束和固體的作用
第11章 入射X射線束和固體的作用