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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標準匯編（第三版）

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標準匯編（第三版）

定　價：￥60.00

作　者： 中國標準出版社 編
出版社： 中國標準出版社
叢編項： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗和著火危險試驗國家標準系列匯編
標　簽： 電器
ISBN： 9787506645676 出版時間： 2007-09-01 包裝： 平裝
開本： 頁數(shù)： 219 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工電子產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，對電工電子產(chǎn)品進行人工模擬環(huán)境試驗和必要的著火危險試驗是保證其在生產(chǎn)、運輸、使用等各環(huán)節(jié)中都安全可靠所必不可少的重要環(huán)節(jié)。出廠前對電工電子產(chǎn)品進行人工模擬環(huán)境試驗是保證質(zhì)量所必不可少的重要環(huán)節(jié)，因此環(huán)境試驗條件、試驗方法、試驗設(shè)備、各項著火危險試驗是否符合標準關(guān)系重大。多年來我國制修訂了很多這方面的國家標準，我們陸續(xù)出版過電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方面標準的系列匯編，受到讀者歡迎。截至目前為止，該方面國家標準共計147項，其中2005年以來新制修訂的電工電子環(huán)境試驗、著火危險試驗及特殊環(huán)境條件方面的國家標準共有59項，并廢止17項（不包括代替）。這些標準受到廣大電工電子產(chǎn)品研制、生產(chǎn)、檢驗、運輸、使用人員的關(guān)注。我們特此匯集整理，分5冊陸續(xù)出版：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標準匯編（第四版）電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國家標準匯編（第三版）電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標準匯編（第三版）電工電子產(chǎn)品著火危險試驗國家標準匯編（第二版）電工電子產(chǎn)品特殊環(huán)境條件國家標準匯編（第一版）本冊為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標準匯編（第三版）》，共匯集了截至2007年6月底我國正式發(fā)布實施且現(xiàn)行有效的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法方面的國家標準15項及有關(guān)低溫箱、高溫箱、濕溫箱、鹽霧箱和霉菌箱等試驗設(shè)備的國家標準8項，共計23項。本匯編收集的國家標準均為推薦性國家標準（目錄中標明GB／T），標準年號用四位數(shù)字表示。鑒于部分國家標準是在國家標準清理整頓前出版的，現(xiàn)尚未修訂，故正文部分仍保留原樣；讀者在使用這些國家標準時，其屬性以本目錄標明的為準（標準正文“引用標準”中的標準的屬性請讀者注意查對）。由于所收錄標準的發(fā)布年代不盡相同，我們對標準中所涉及到的有關(guān)量和單位的標注方法未作統(tǒng)一改動。

作者簡介

暫缺《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標準匯編（第三版）》作者簡介

圖書目錄

環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
GB／T 5170．1—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
GB／T 5170．2—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB／T 5170．5—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備
GB／T 5170．8—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備
GB／T 5170．9—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 太陽輻射試驗設(shè)備
GB／T 5170．10—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB／T 5170．11—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
GB／T 5170．13—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用機械振動臺
GB／T 5170．14—1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用電動眼動臺
GB／T 5170．15—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用液壓振動臺
GB／T 5170．16—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離 心機
GB／T 5170．17—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫／低氣壓／濕熱綜合順序試驗設(shè)備
GB／T 5170．18—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度／濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
GB／T 5170．19—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度／振動(正弦)綜合試驗設(shè)備
GB／T 5170．20—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備
環(huán)境試驗設(shè)備
GB／T 10586—2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB／T 10587—2006鹽霧試驗箱技術(shù)條件
GB／T 10588—2006長霉試驗箱技術(shù)條件
GB／T 10589—1989低溫試驗箱技術(shù)條件
GB／T 10590—2006高低溫／低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB／T 10591—2006高溫／低氣壓試驗箱技術(shù)條件一
GB／T 10592—1989高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB／T 11158—1989高溫試驗箱技術(shù)條件

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