數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗教程

第一部分  基礎(chǔ)和綜合性實驗第1章基礎(chǔ)實驗3
1.1 TTL集成邏輯門的邏輯功能與參數(shù)測試3
1.2 組合邏輯電路的設(shè)計與測試8
1.3 譯碼器功能的測試及其應(yīng)用11
1.4 編碼器、顯示譯碼及LED數(shù)碼管顯示電路16
1.5 數(shù)據(jù)選擇器及其應(yīng)用20
1.6 MSI加法器功能測試及應(yīng)用26
1.7 觸發(fā)器RS、D、JK功能測試28
1.8 各種觸發(fā)器邏輯功能的轉(zhuǎn)換32
1.9 計數(shù)器MSI芯片的應(yīng)用35
1.10 移位寄存器及其應(yīng)用38
1.11 555時基電路及其應(yīng)用44
第2章  綜合性實驗51
2.1 簡易電子琴電路51
2.2 四人智力競賽搶答裝置52
2.3 D/A、A/D轉(zhuǎn)換器原理及應(yīng)用55
2.4 數(shù)字頻率計61
2.5 拔河游戲機67
2.6 電子秒表72
第二部分  EDA仿真與驗證性實驗
第3章 Multisim 8.0使用簡介79
3.1 Multisim 8.0的特點79
3.2 Multisim 8.0的基本操作界面81
3.3 Multisim 8.0對元器件的管理99
3.4 原理圖的繪制103
3.5 虛擬儀器及其使用105
3.6 操作步驟109
第4章  基于Multisim 8.0的電路仿真112
4.1 集成邏輯門電路邏輯功能的測試112
4.2 半加器、全加器的分析與設(shè)計115
4.3 組合邏輯電路設(shè)計118
4.4 四選一數(shù)據(jù)選擇器功能的測試與應(yīng)用123
4.5 觸發(fā)器功能的測試與應(yīng)用126
4.6 計數(shù)器功能的測試與應(yīng)用130
第5章  綜合與設(shè)計性實踐134
5.1 555時基電路及其應(yīng)用134
5.2 四人搶答電路142
5.3 彩燈控制電路144
5.4 D/A、A/D轉(zhuǎn)換器145
5.5 簡易電子琴電路149
5.6 交通燈控制系統(tǒng)設(shè)計151
5.7 電子密碼鎖控制電路152
第6章  VHDL、Quartus Ⅱ概述156
6.1 VHDL概述156
6.2 Quartus Ⅱ 概述160
6.3 基于Quartus Ⅱ的原理圖輸入設(shè)計流程161
6.4 文本輸入設(shè)計法186
第7章  邏輯電路VHDL/Verilog描述187
7.1 基本邏輯電路187
7.2 綜合應(yīng)用舉例205
第三部分  附錄
附錄1 儀器儀表使用簡介215
附錄1.1 DVCCD2JH數(shù)字電路實驗箱216
附錄1.2 EE1642B型函數(shù)信號發(fā)生器/計數(shù)器217
附錄2 常用芯片引腳圖218
附錄2.1 74LS系列TTL電路外引線排列218
附錄2.2 CMOS及其他集成電路引線排列223
參考文獻(xiàn)226