電子技術基礎實驗

前言
第1章電子技術基礎實驗基礎知識
1.1電子技術基礎實驗的目的.意義和要求
1.1.1電子技術基礎實驗的目的和意義
1.1.2電子技術基礎實驗的基本要求
1.2測量誤差分析
1.2.1測量誤差的定義
1.2.2測量誤差分類
1.3實驗測量數(shù)據(jù)處理
1.3.1實驗數(shù)據(jù)的數(shù)字處理
1.3.2曲線處理
第2章電子技術實驗中的常用測量方法
2.1電子測量的基本概念
2.1.1電子測量
2.1.2測量方法分類
2.2電壓測量
2.2.1直接測量法
2.2.2比較測量法
2.3阻抗測量
2.3.1輸入電阻的測量
2.3.2輸出電阻的測量
2.4幅頻特性的測量
2.4.1逐點法
2.4.2掃頻法
2.5時間.頻率和相位的測量
2.5.1時間的測量
2.5.2頻率的測量
2.5.3相位的測量
第3章常用實驗測量儀器
3.1電子示波器
3.1.1電子示波器的主要性能指標
3.1.2電子示波器顯示波形原理
3.1.3通用示波器的組成及工作原理
3.1.4示波器的使用方法
3.2信號發(fā)生器
3.2.1低頻信號發(fā)生器的主要性能指標
3.2.2低頻信號發(fā)生器組成框圖
3.2.3電路原理
3.3電子電壓表
3.3.1電壓表的主要性能指標
3.3.2交流電壓的表示方法
3.3.3模擬式電子電壓表的基本原理
3.4數(shù)字式頻率計
3.4.1數(shù)字頻率計的主要性能指標
3.4.2計數(shù)器的工作原理
3.4.3數(shù)字式頻率計的組成
3.4.4數(shù)字式頻率計測頻范圍的擴展
3.4.5頻率計數(shù)器的使用方法
3.5頻率特性測試儀
3.5.1頻率特性測試儀的主要性能指標
3.5.2頻率特性測試儀的組成及工作原理
3.5.3頻率特性測試儀的使用
第4章模擬電子技術實驗
4.1模擬電子技術基礎實驗
實驗4.1.1電信號參數(shù)測量及常用電子儀器使用
實驗4.1.2單級共射極放大電路
實驗4.1.3兩級負反饋放大電路
實驗4.1.4信號運算電路
實驗4.1.5電壓比較器
實驗4.1.6三角波—方波發(fā)生器
實驗4.1.7RC有源濾波器
實驗4.1.8集成功率放大電路
實驗4.1.9直流穩(wěn)壓電源
實驗4.1.10光耦隔離信號傳送實驗
4.2模擬電子技術設計實驗
實驗4.2.1具有恒流源偏置的差分放大器的設計
實驗4.2.2方波-三角波-正弦波信號發(fā)生器的設計
實驗4.2.3音響放大器設計
第5章數(shù)字電子技術實驗
5.1數(shù)字電子技術基礎實驗
實驗5.1.1門電路的電壓傳輸特性實驗
實驗5.1.2OC門.TS門的功能測試和應用
實驗5.1.3SSI組合邏輯電路的設計
實驗5.1.4競爭與冒險
實驗5.1.5常用MSI組合邏輯電路的應用
實驗5.1.6基本觸發(fā)器功能測試及應用
實驗5.1.7SSI時序邏輯電路的應用和設計
實驗5.1.8常用MSI時序電路的應用
實驗5.1.9單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
實驗5.1.10555集成定時器及其應用
實驗5.1.11計數(shù).譯碼和顯示
實驗5.1.12A／D.D／A轉換器實驗
5.2數(shù)字電子技術設計實驗
實驗5.2.1簡易彩燈循環(huán)控制器
實驗5.2.28人智能搶答器的設計
實驗5.2.3交通燈控制電路
實驗5.2.4多功能數(shù)字鐘電路設計
實驗5.2.5數(shù)字頻率計
第6章高頻電路實驗
6.1高頻電路基礎實驗
實驗6.1.1正弦波振蕩器
實驗6.1.2振幅調制器
實驗6.1.3高頻功率放大器
實驗6.1.4混頻器
實驗6.1.5高頻小信號諧振放大器
實驗6.1.6調幅波的解調
實驗6.1.7調頻器
實驗6.1.8鑒頻器
實驗6.1.9調幅系統(tǒng)聯(lián)調實驗
實驗6.1.10調頻系統(tǒng)聯(lián)調實驗
6.2高頻電路設計實驗
實驗6.2.1同步檢波器設計
實驗6.2.2鎖相環(huán)CD4046應用電路設計.
實驗6.2.3單片集成調頻發(fā)射.接收系統(tǒng)設計
第7章電子電路仿真及EDA實驗
7.1EWB軟件的使用和仿真實驗
7.1.1EWB軟件簡介
7.1.2EWB的特點
7.1.3EWB的界面
7.1.4EWB的基本操作
7.1.5EWB的基本分析方法
7.1.6仿真實例
7.1.7基于EWB平臺上的仿真實驗
7.2QuartusⅡ平臺上的數(shù)字電路設計及仿真
7.2.1應用FPGA／CPLD的EDA設計流程
7.2.2QuartusⅡ的設計方法
7.2.3QuartusⅡ平臺上的數(shù)字電路實驗
參考文獻