現(xiàn)代電子技術(shù)基礎(chǔ)（數(shù)字部分）

　　內(nèi)容簡介目錄為適應(yīng)現(xiàn)代數(shù)字技術(shù)的飛速發(fā)展，本書對(duì)傳統(tǒng)教學(xué)內(nèi)容進(jìn)行了較大幅度的更新，進(jìn)一步精簡了傳統(tǒng)的數(shù)字器件和設(shè)計(jì)方法，突出EDA設(shè)計(jì)技術(shù)和數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法。全書主要內(nèi)容包括：數(shù)制與編碼；邏輯函數(shù)及其化簡；組合電路分析與設(shè)計(jì)；時(shí)序電路分析與設(shè)計(jì)；數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)與設(shè)計(jì)自動(dòng)化；硬件描述語言VHDL；可編程邏輯器件CPLD/FPGA的原理與應(yīng)用；數(shù)/模與模/數(shù)轉(zhuǎn)換；數(shù)字電路測(cè)試和可測(cè)性設(shè)計(jì)等。本書可作為高等院校電子信息類、電氣信息類、自動(dòng)控制類和計(jì)算機(jī)類各專業(yè)的教材，也可作為相關(guān)工程技術(shù)人員的參考書。 引言第1章 數(shù)制與編碼1.1 數(shù)制31.1.1 十進(jìn)制31.1.2 二進(jìn)制41.1.3 八進(jìn)制和十六進(jìn)制41.1.4 數(shù)制轉(zhuǎn)換51.1.5 二進(jìn)制數(shù)的算術(shù)運(yùn)算81.2 編碼101.2.1 二進(jìn)制編碼101.2.2 帶符號(hào)數(shù)的編碼及運(yùn)算121.2.3 二―十進(jìn)制碼151.2.4 字符編碼181.2.5 可靠性編碼20習(xí)題21第2章 邏輯函數(shù)及其化簡2.1 邏輯代數(shù)基礎(chǔ)232.1.1 邏輯函數(shù)的基本概念232.1.2 邏輯代數(shù)的基本運(yùn)算與復(fù)合運(yùn)算232.2 邏輯代數(shù)的基本公式和規(guī)則292.2.1 基本公式292.2.2 常用規(guī)則302.3 邏輯函數(shù)和邏輯表達(dá)式322.3.1 邏輯函數(shù)的表示方法322.3.2 與或式與最小項(xiàng)表達(dá)式342.3.3 或與式與最大項(xiàng)表達(dá)式352.3.4 邏輯圖382.3.5 邏輯函數(shù)的代數(shù)法化簡402.4 邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡422.4.1 卡諾圖的構(gòu)成422.4.2 用卡諾圖表示邏輯函數(shù)432.4.3 用卡諾圖化簡邏輯函數(shù)462.4.4 未完全規(guī)定的邏輯函數(shù)及其化簡50習(xí)題53第3章 組合邏輯電路3.1 數(shù)字集成器件簡介563.1.1 集成電路的主要電氣指標(biāo)573.1.2 邏輯電路的輸出結(jié)構(gòu)603.1.3 正邏輯和負(fù)邏輯623.1.4 常用門電路及邏輯符號(hào)633.2 常用組合邏輯模塊643.2.1 并行加法器643.2.2 數(shù)值比較器663.2.3 編碼器683.2.4 譯碼器693.2.5 數(shù)據(jù)選擇器733.3 組合電路分析773.4 組合電路設(shè)計(jì)813.4.1 用SSI設(shè)計(jì)組合電路823.4.2 用MSI設(shè)計(jì)組合電路873.4.3 功能分解的設(shè)計(jì)方法913.5 競爭與險(xiǎn)象943.5.1 邏輯險(xiǎn)象及其消除方法943.5.2 功能險(xiǎn)象963.5.3 險(xiǎn)象的排除96習(xí)題97第4章 時(shí)序電路分析4.1 時(shí)序電路概述1044.2 集成觸發(fā)器及其應(yīng)用1054.2.1 基本RS觸發(fā)器1064.2.2 時(shí)鐘RS觸發(fā)器1114.2.3 D觸發(fā)器1134.2.4 JK觸發(fā)器1184.2.5 T觸發(fā)器1204.2.6 異步計(jì)數(shù)器1214.3 同步時(shí)序電路分析1234.3.1 米里型電路的分析1244.3.2 莫爾型電路的分析1284.3.3 復(fù)雜電路的功能表描述1314.3.4 自啟動(dòng)1324.3.5 異步信號(hào)的同步化1364.4 集成計(jì)數(shù)器及其應(yīng)用1384.4.1 同步加法計(jì)數(shù)器741631394.4.2 異步加／減（可逆）計(jì)數(shù)器741921474.4.3 計(jì)數(shù)器應(yīng)用實(shí)例：數(shù)字鐘1514.5 集成移位寄存器及其應(yīng)用1534.5.1 四位雙向移位寄存器741941544.5.2 移位寄存器的應(yīng)用實(shí)例：汽車尾燈控制電路1614.6 隨機(jī)訪問存儲(chǔ)器與快閃存儲(chǔ)器1634.6.1 隨機(jī)訪問存儲(chǔ)器1644.6.2 快閃存儲(chǔ)器174習(xí)題176第5章 同步時(shí)序電路設(shè)計(jì)5.1 同步時(shí)序電路的建模1865.1.1 根據(jù)輸入序列推導(dǎo)狀態(tài)表（圖）1865.1.2 根據(jù)輸出序列推導(dǎo)狀態(tài)表（圖） 1905.2 用觸發(fā)器實(shí)現(xiàn)同步時(shí)序電路1915.3 用MSI時(shí)序模塊設(shè)計(jì)同步時(shí)序電路2025.3.1 以集成計(jì)數(shù)器為核心設(shè)計(jì)同步時(shí)序電路2025.3.2 以多D觸發(fā)器為核心設(shè)計(jì)同步時(shí)序電路2085.4 應(yīng)用設(shè)計(jì)實(shí)例：鐵路和公路交叉路口自動(dòng)交通控制器的設(shè)計(jì)211習(xí)題218第6章 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)與設(shè)計(jì)自動(dòng)化6.1 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)初步2226.1.1 算法設(shè)計(jì)2236.1.2 數(shù)據(jù)處理單元設(shè)計(jì)2266.1.3 控制單元設(shè)計(jì)2286.2 計(jì)算機(jī)的組織結(jié)構(gòu)2376.2.1 計(jì)算機(jī)的基本結(jié)構(gòu)2376.2.2 簡單CPU的有限狀態(tài)機(jī)2386.3 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)自動(dòng)化2436.3.1 邏輯驗(yàn)證與邏輯模擬2446.3.2 邏輯綜合與優(yōu)化2476.4 硬件描述語言VHDL2516.4.1 VHDL基本結(jié)構(gòu)2526.4.2 數(shù)據(jù)對(duì)象、類型及運(yùn)算符2566.4.3 順序語句2606.4.4 并行語句2636.4.5 子程序2696.4.6 程序包與設(shè)計(jì)庫2736.4.7 元件配置2756.4.8 VHDL描述實(shí)例278習(xí)題285第7章 可編程邏輯器件及其應(yīng)用7.1 PLD的基本原理2887.1.1 PLD的基本組成2897.1.2 PLD內(nèi)部電路的表示方法2907.1.3 PLD的編程方法2917.2 簡單可編程邏輯器件SPLD2927.2.1 可編程只讀存儲(chǔ)器PROM2927.2.2 可編程邏輯陣列PLA2957.2.3 可編程陣列邏輯PAL2967.2.4 通用陣列邏輯GAL2997.3 高密度可編程邏輯器件HDPLD3027.3.1 CPLD組成與特點(diǎn)3027.3.2 FPGA組成與特點(diǎn)3057.3.3 連線確定的FPGA3087.3.4 HDPLD編程技術(shù)3117.4 常用可編程邏輯器件及其開發(fā)工具3177.4.1 Lattice公司的CPLD/FPGA與開發(fā)軟件3177.4.2 Altera公司的CPLD/FPGA及開發(fā)工具3187.4.3 Xilinx公司的CPLD/FPGA和開發(fā)平臺(tái)3197.5 PLD應(yīng)用舉例321習(xí)題326第8章 集成數(shù)/模和模/數(shù)轉(zhuǎn)換器8.1 集成數(shù)/模轉(zhuǎn)換器（DAC）3288.1.1 集成D/A轉(zhuǎn)換技術(shù)3298.1.2 DAC的主要技術(shù)指標(biāo)3328.1.3 DAC的選用3348.1.4 典型集成DAC及其應(yīng)用3348.2 集成模/數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）3378.2.1 A/D轉(zhuǎn)換的步驟3378.2.2 集成A/D轉(zhuǎn)換技術(shù)3408.2.3 ADC的主要技術(shù)指標(biāo)3498.2.4 ADC的選用3508.2.5 典型集成ADC及其應(yīng)用351習(xí)題354第9章 數(shù)字電路測(cè)試和可測(cè)性設(shè)計(jì)9.1 數(shù)字電路的故障檢測(cè)3589.1.1 故障模型與測(cè)試碼3589.1.2 組合電路的測(cè)試生成3609.1.3 同步時(shí)序電路的測(cè)試3649.2 數(shù)字電路的可測(cè)性設(shè)計(jì)3659.2.1 可控制性和可觀察性3659.2.2 增加控制點(diǎn)與觀察點(diǎn)的方法3679.2.3 掃描設(shè)計(jì)技術(shù)3719.3 邊界掃描設(shè)計(jì)3739.3.1 邊界掃描芯片的結(jié)構(gòu)3749.3.2 板級(jí)邊界掃描設(shè)計(jì)3779.3.3 系統(tǒng)級(jí)邊界掃描結(jié)構(gòu)3799.4 內(nèi)自測(cè)試3809.4.1 內(nèi)自測(cè)試的組成3809.4.2 特征分析器3819.4.3 內(nèi)建邏輯模塊觀察器383習(xí)題384參考文獻(xiàn)

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