計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試技術(shù)導(dǎo)論

第一部分 用現(xiàn)有儀器構(gòu)成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
 第1章 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)概述
  1.1 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的組成
  1.2 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的分類
  1.3 現(xiàn)代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)
 第2章 通用接口總線概述
  2.1 概述
  2.2 接口基本性能及儀器功能
  2.3 總線結(jié)構(gòu)
  2.4 接口基本特性
 第3章 通用接口總線協(xié)議編碼
  3.1 信息分類
  3.2 接口信息及編碼
  3.3 設(shè)備信息及編碼
 第4章 接口功能
  4.1 清除功能（DC）
  4.2 設(shè)備觸發(fā)功能（DT）
  4.3 聽功能（L）
  4.4 講功能（T）
  4.5 源功能（SH）
  4.6 受功能（AH）
  4.7 服務(wù)請(qǐng)求功能（SR）
  4.8 遠(yuǎn)程/本地功能（RL）
  4.9 控者功能（C）
 第5章 USB及虛擬儀器
  5.1 USB總線協(xié)議簡(jiǎn)介
  5.2 基本結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介
  5.3 USB協(xié)議總覽
  5.4 連接特性
  5.5 VXI概念
第二部分 模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng)
 第6章 CAT概述及TM7簡(jiǎn)介
  6.1 CAT概述
  6.2 TM7簡(jiǎn)介
 第7章 測(cè)試語(yǔ)言簡(jiǎn)介
  7.1 BASIC語(yǔ)法定義
  7.2 TBASIC命令
  7.3 TBASIC的語(yǔ)句
  7.4 測(cè)試用的新增函數(shù)
  7.5 其他語(yǔ)句組
  7.6 數(shù)字測(cè)試擴(kuò)展語(yǔ)句
  7.7 如何使用TBASIC7
  7.8 測(cè)試語(yǔ)言的深層次討論
 第8章 TM7的硬件
  8.1 TM7的硬件系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
  8.2 硬件的層次結(jié)構(gòu)（三層結(jié)構(gòu)）
  8.3 TM7的接口控制電路的幾個(gè)問題
  8.4 TM7的數(shù)字電路
  8.5 模擬電路
 第9章 基本種類IC的測(cè)試
  9.1 運(yùn)算放大器的測(cè)試
  9.2 集成三端穩(wěn)壓器的測(cè)試
  9.3 DAC的測(cè)試
  9.4 ADC的測(cè)試及適配器的工作原理
 第10章 測(cè)試儀系統(tǒng)軟件的開發(fā)及儀器自檢和校準(zhǔn)
  10.1 系統(tǒng)軟件的結(jié)構(gòu)
  10.2 自檢原理及算法
  10.3 校準(zhǔn)
  10.4 TM7的校準(zhǔn)和模擬量自檢方法
  附錄A TBASIC命令表
  附錄B 函數(shù)表
  附錄C 測(cè)試語(yǔ)句表
  附錄D TBASIC錯(cuò)誤信息表
英文縮略詞英漢對(duì)照表
參考文獻(xiàn)