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X射線衍射分析技術(shù)及其地質(zhì)應(yīng)用

X射線衍射分析技術(shù)及其地質(zhì)應(yīng)用

定　價：￥1.35

作　者： 林西生等編著
出版社： 石油工業(yè)出版社
叢編項： 儲集巖研究方法叢書
標(biāo)　簽： 礦物 X射線衍射分析
ISBN： 9787502104757 出版時間： 1990-11-01 包裝：
開本： 21cm 頁數(shù)： 148頁 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書重點介紹混層粘土礦物及自生礦物的X射線譜圖解釋。

作者簡介

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圖書目錄

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