QS 9000參考手冊學習與理解：統(tǒng)計過程控制

前言
1  統(tǒng)計過程控制的基本概念及其理論基礎(chǔ)
    1.1  過程  
    1.2  過程變差  
    1.3  正態(tài)分布
    1.4  總體、樣本及其分布  
    1.5  正態(tài)概率紙——檢驗總體X是否服從正態(tài)分布的簡便工具
    1.6  伯努利試驗與二項分布
    1.7  泊松分布
    1.8  過程變差的普通原因與特殊原因
    1.9  局部措施和對系統(tǒng)采取措施
    1.10  檢測、預(yù)防與統(tǒng)計過程控制
    1.11  計量型數(shù)據(jù)與計數(shù)型數(shù)據(jù)  
2  均值-極差圖(¯X-R圖)
    2.1  利用子組監(jiān)測過程
    2.2  確定合理的監(jiān)測特性
    2.3  選擇合適的測量系統(tǒng)測量監(jiān)測特性
    2.4  確定合理的子組
    2.5  子組容量與測取子組的頻率
    2.6  子組總數(shù)
    2.7  ¯X-R圖的過程控制解釋
    2.8  分析極差圖上的數(shù)據(jù)點并采取糾正措施
    2.9  分析均值圖上的數(shù)據(jù)點并采取糾正措施
    2.10  根據(jù)¯X-R控制圖提供的信息采取行動
    2、11  過程分布的非正態(tài)性對¯X-R控制圖的影響
    2.12  初始過程研究與生產(chǎn)現(xiàn)場的在線過程控制
    2.13  確定過程能力
3  其他計量型控制圖
    3.1  均值—標準差圖(¯X-S圖)
    3.2  中位數(shù)—極差圖(X-R圖)
    3.3  單值—移動極差圖(X-MR圖)
4  計量型數(shù)據(jù)的過程能力與過程性能
    4.1  有關(guān)過程能力與過程性能的定義
    4.2  過程能力和性能指數(shù)
    4.3  損失函數(shù)
5  利用控制圖回答的問題與合理子組的確定
    5.1  利用控制圖回答的問題
    5.2  合理子組的確定
6  計數(shù)型控制圖
    6.1  不合格品率控制圖(p圖)
    6.2  不合格品數(shù)控制圖(np圖)
    6.3  不合格數(shù)控制圖(c圖)
    6.4  單位不合格數(shù)控制圖(u圖)
7  應(yīng)用控制圖進行持續(xù)改進
8  用于多品種、小批量生產(chǎn)過程控制的控制圖
    8.1  用于多品種、小批量生產(chǎn)過程控制的¯X-R圖
    8.2  標準化又¯X-R圖
    8.3  用于多品種、小批量生產(chǎn)過程的計數(shù)型控制圖
附表1  標準正態(tài)分布函數(shù)表
附表2  ¯X-R控制圖和¯X-S控制圖的常數(shù)表
附錄3  X-R控制圖和X-MR控制圖的常數(shù)表
參考文獻
結(jié)語