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內(nèi)容簡介

　　本書內(nèi)容詳細闡述分析表征納米材料的方法和技術(shù)，主要圍繞表征技術(shù)在分析納米材料原子結(jié)構(gòu)和物理化學性能中的原理、數(shù)據(jù)分析過程和具體應(yīng)用，并介紹了各種方法的最新進展和參考文獻。本書作者來自美國、中國、日本等國家。

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暫缺《納米相和納米結(jié)構(gòu)材料：結(jié)構(gòu)和性能表征手冊》作者簡介

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1，X-ray and Neutron Scattering 2，Transmission Electron Microscopy and Spectroscopy 3，Scanning Electron Microsocopy 4，Scanning Probe Microscopy 5，Optical Spectroscopy 6，Dynamic Properties Of Nanoparticles 7，Magnetic Characterization 8，Electrochemical Characterization 9，Mechanical Property Characterization 10，Thermal Analysis

作　者：	王中林主編
出版社：	清華大學出版社
叢編項：	21世紀科技前沿叢書
標　簽：	自然科學總論

ISBN：	9787302054429	出版時間：	2002-05-01	包裝：	精裝
開本：	24cm	頁數(shù)：	388	字數(shù)：

納米相和納米結(jié)構(gòu)材料：結(jié)構(gòu)和性能表征手冊

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