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形位誤差檢測(cè)

形位誤差檢測(cè)

定　價(jià)：￥2.10

作　者： 劉巽爾編
出版社： 北京理工大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 形位公差
ISBN： 9787810131384 出版時(shí)間： 1988-12-01 包裝：
開本： 26cm 頁數(shù)： 125頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書以形狀和位置公差的有關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)，系統(tǒng)的闡述基本原理1檢測(cè)原則和常用檢測(cè)方法的基本原理及測(cè)量結(jié)果的處理方法等。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《形位誤差檢測(cè)》作者簡(jiǎn)介

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