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光干涉測(cè)量技術(shù)

光干涉測(cè)量技術(shù)

定　價(jià)：￥20.00

作　者： 吳震等編著
出版社： 中國(guó)計(jì)量出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 光學(xué)干涉儀
ISBN： 9787502607357 出版時(shí)間： 1995-01-01 包裝：
開本： 20cm 頁數(shù)： 517頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　介紹各種干涉儀的原理、結(jié)構(gòu)、操作方法及光干涉測(cè)量技術(shù)在長(zhǎng)度、角度、形狀、光學(xué)元件和光學(xué)系統(tǒng)、光學(xué)傳遞函數(shù)、形變、流速、振動(dòng)等的應(yīng)用.

作者簡(jiǎn)介

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