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數(shù)理統(tǒng)計(jì)理論與方法在痕量分析中的應(yīng)用

數(shù)理統(tǒng)計(jì)理論與方法在痕量分析中的應(yīng)用

定　價：￥15.00

作　者： （羅馬尼亞）C·利特安努，（羅馬尼亞）I·里卡著；吳乾文等譯
出版社： 原子能出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 痕量分析
ISBN： 9787502200923 出版時間： 1990-01-01 包裝：
開本： 21cm 頁數(shù)： 475頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書內(nèi)容：內(nèi)容分析測量數(shù)據(jù)處理中用的統(tǒng)計(jì)元、結(jié)果的信息處理、分析系統(tǒng)的穩(wěn)定性、信號與濃度的關(guān)系，分析信號檢測、化學(xué)分析的檢測限、痕量測定，提高分析化學(xué)中的信噪比等。

作者簡介

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