近代物理實(shí)驗(yàn)技術(shù)（Ⅱ）

　　本卷繼承卷Ⅰ的編寫(xiě)宗旨，著重介紹近代科學(xué)實(shí)驗(yàn)室中常用到的近代物理實(shí)驗(yàn)技術(shù)的原理、方法、儀器、操作和應(yīng)用、有關(guān)數(shù)據(jù)以及最新發(fā)展和動(dòng)態(tài)。內(nèi)容包括：超短光脈沖實(shí)驗(yàn)技術(shù)、L－B技術(shù)、近代偏光技術(shù)與偏光器件、近代X光技術(shù)、原子級(jí)及近原子級(jí)表面分析方法、離子存儲(chǔ)技術(shù)、近代薄膜技術(shù)、非線性光學(xué)、晶體生長(zhǎng)技術(shù)、小加速器及其應(yīng)用、核輻射探測(cè)器共十一個(gè)方面。

暫缺《近代物理實(shí)驗(yàn)技術(shù)（Ⅱ）》作者簡(jiǎn)介