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當(dāng)前位置： 首頁(yè)出版圖書(shū)科學(xué)技術(shù)工業(yè)技術(shù)無(wú)線電電子學(xué)、電信技術(shù)半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化

半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化

半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化

定　價(jià)：￥16.40

作　者： （英）M.J.豪斯（M.J.Howes），（英）D.V.摩根（D.V.Morgan）主編；李錦林等譯
出版社： 科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 電路
ISBN： 9787030011640 出版時(shí)間： 1989-01-01 包裝：
開(kāi)本： 21cm 頁(yè)數(shù)： 463頁(yè) 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)闡述了用硅、砷化鎵及磷化銦等材料制作的雙極型晶體管，場(chǎng)效應(yīng)晶體管、發(fā)光二極管、半導(dǎo)體激光器以及微波集成電路等各種半導(dǎo)體器件和電路的可靠性和退化 問(wèn)題。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化》作者簡(jiǎn)介

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