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表面與薄膜分析基礎(chǔ)

表面與薄膜分析基礎(chǔ)

定　價(jià)：￥3.35

作　者： （美）[費(fèi)爾德曼]Leonard C.Feldman，（美）[邁耶]James W.Mayer著；嚴(yán)燕來，蔣平譯
出版社： 復(fù)旦大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 工程材料 表面分析
ISBN： 9787309003604 出版時(shí)間： 1989-10-01 包裝：
開本： 20cm 頁數(shù)： 403頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書論述了用于材料表面和薄膜的各種重要的現(xiàn)代分析技術(shù)，包括背散射譜、低能電子衍射、次級離子質(zhì)譜、廣延X射線精細(xì)結(jié)構(gòu)、光電子譜及核技術(shù)等。

作者簡介

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