X射線熒光光譜分析

前言
緒論
第一篇 X射線熒光光譜基本原理
第一章 X射線物理學(xué)基礎(chǔ)
§1.1 X射線的本質(zhì)和定義
§1.2 X射線光譜
§1.3 莫塞萊定律
§1.4 X射線與物質(zhì)的相互作用
§1.5 布拉格定律
§1.6 俄歇效應(yīng)和熒光產(chǎn)額
§1.7 譜線分數(shù)
參考文獻
第二章 X射線熒光強度的理論計算
§2.1 概述
§2.2 激發(fā)因子
§2.3 X光管原級譜的強度分布和譜儀的幾何因子
§2.4 一次（原級）熒光強度的計算
§2.5 二次（次級）熒光強度的計算
§2.6 三次（第三級）熒光強度的計算
§2.7 X射線熒光相對強度理論計算的小結(jié)
參考文獻
第二篇 X射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)和性能
第三章 激發(fā)源和探測器
§3.1 概述
§3.2 激發(fā)源
§3.3 探測器
參考文獻
第四章 波長色散X射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)和性能
§4.1 概述
§4.2 光源
§4.3 原級譜濾光片
§4.4 通道面罩和準直器
§4.5 分光晶體
§4.6 探測器
§4.7 測角儀
§4.8 脈沖高度分析器
§4.9 系統(tǒng)軟件
§4.1 0波長色散X射線熒光光譜儀的性能測試方法
參考文獻
第五章 能量色散和全反射X射線熒光光譜儀
§5.1 能量色散X射線熒光光譜儀
§5.2 譜峰位和譜強度數(shù)據(jù)的提取
§5.3 基體校正
§5.4 全反射X射線熒光光譜儀
參考文獻
第三篇 X射線熒光光譜定性和定量分析
第六章 基本參數(shù)法和影響系數(shù)法
§6.1 概述
§6.2 元素間吸收增強效應(yīng)
§6.3 基本參數(shù)法
§6.4 理論影響系數(shù)法
§6.5 基本參數(shù)法和理論影響系數(shù)法的應(yīng)用
§6.6 經(jīng)驗系數(shù)法
參考文獻
第七章 實驗校正法
§7.1 校正曲線法
§7.2 內(nèi)標法
§7.3 標準加入法和標準稀釋法
參考文獻
第八章 定性和半定量分析
§8.1 概述
§8.2 定性分析
§8.3 半定量分析
參考文獻
第九章 定量分析
§9.1 概述
§9.2 波長色散譜儀定量分析條件的選擇
§9.3 能量色散譜儀定量分析條件的選擇
§9.4 校正曲線的制定
§9.5 定量分析方法簡介
§9.6 定量分析方法的準確度評價
§9.7 儀器漂移的校正
參考文獻
第十章 薄膜和多層膜分析
§10.1 薄試樣和厚試樣
§10.2 單層和多層膜的熒光強度計算
§10.3 非無限厚試樣的定量分析
參考文獻
第四篇 樣品制備和不確定度評定
第十一章 樣品制備
§11.1 基本概念
§11.2 樣品的預(yù)加工
§11.3 固體樣品的制備方法
§11.4 液體樣品的制備方法
§11.5 富集技術(shù)在樣品制備中的應(yīng)用
參考文獻
第十二章 不確定度評定
§12.1 基礎(chǔ)知識
§12.2 不確定度的評定
§12.3 X射線熒光光譜定量分析中的不確定度來源
§12.4 結(jié)語
參考文獻
第五篇 化學(xué)計量學(xué)和化學(xué)態(tài)分析
第十三章 化學(xué)計量學(xué)研究在X射線熒光分析中的應(yīng)用
§13.1 概述
§13.2 基體校正方程與化學(xué)計量學(xué)之間的關(guān)系
§13.3 偏最小二乘法
§13.4 因子分析
§13.5 模式識別
§13.6 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)
§13.7 知識工程
參考文獻
第十四章 波長色散X射線熒光光譜儀在化學(xué)態(tài)分析中的應(yīng)用
§14.1 概述
§14.2 高分辨率X射線熒光光譜儀
§14.3 普通波長色散X射線熒光光譜儀分辨率的測定及改善
§14.4 譜處理方法
§14.5 X射線熒光光譜儀在化學(xué)態(tài)分析中的應(yīng)用
參考文獻
附錄