數(shù)字電路與邏輯設(shè)計

第1章 數(shù)字邏輯基礎(chǔ)
1. 1 結(jié)論
1. 1. 1 數(shù)字電路的基本概念
1.1.2 數(shù)字集成電路的發(fā)展趨勢
1.2 數(shù)制與代碼
1.2.1 數(shù)制及其相互轉(zhuǎn)換
1.2.2 帶符號數(shù)表示法
1.2.3 代碼
1.3 邏輯代數(shù)基礎(chǔ)
1.3.1 邏輯代數(shù)的基本運算
1.3.2 邏輯代數(shù)的基本公式和運算規(guī)則
1.3.3 復(fù)合邏輯運算與常用邏輯門
1.3.4 正邏輯與負邏輯
1.4 邏輯函數(shù)的描述方法
1.4.1 真值表描述法
1.4.2 代數(shù)式描述法
1.4.3 卡諾圖描述法
1.5 邏輯函數(shù)的化簡
1.5.1 邏輯化簡的意義
1.5.2 邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡法
1.5.3 帶有任意項邏輯函數(shù)的化簡
習題1
第2章 組合邏輯電路
2.1 集成邏輯門
2.1.1 TTL邏輯門電路
2.1.2 CMOS邏輯門電路
2.1.3 集成邏輯門電路的使用
2.2 組合邏輯電路分析
2.2.1 分析步驟
2.2.2 分析舉例
2.3 組合邏輯電路設(shè)計
2.3.1 設(shè)計步驟
2.3.2 設(shè)計舉例
2.4 組合邏輯電路中的競爭與冒險
2.4.1 競爭與冒險現(xiàn)象
2.4.2 冒險現(xiàn)象的識別
2.4.3 冒險現(xiàn)象的消除方法
習題2
第3章 組臺邏輯模塊及其應(yīng)用
3.1 加法器
3. 1.1 半加器和全加器
3.1.2 加法器典型模塊及應(yīng)用
3.2 數(shù)碼比較器
3.2.1 MSI比較器典型模塊
3.2.2 MSI比較器模塊的應(yīng)用
3.3 編碼器與譯碼器
3.3.1 編碼器
3.3.2 譯碼器及其應(yīng)用
3.4 數(shù)據(jù)選擇器和數(shù)據(jù)分配器
3.4.1 數(shù)據(jù)選擇器及其應(yīng)用
3.4.2 數(shù)據(jù)分配器及其實現(xiàn)
習題3
第4章 時序邏輯電路
4.1 時序電路基礎(chǔ)
4.1.1 時序電路的一般模型
4.1.2 狀態(tài)表和狀態(tài)圖
4.1.3 時序電路的一般分類
4.2 觸發(fā)器
4.2.1 基本貼觸發(fā)器
4.2.2 同步RS觸發(fā)器
4.2.3 集成觸發(fā)器
4.3 同步時序電路分析
4.3.1 分析步驟
4.3.2 分析舉例
4.4 同步時序電路設(shè)計
4.4. l 設(shè)計步驟
4.4.2 建立原始狀態(tài)圖(或狀態(tài)表)
4.4.3 狀態(tài)化簡
4.4.4 狀態(tài)分配
4.4.5 設(shè)計舉例
4.5 異步時序電路
4.5.1 異步時序電路分類
4.5.2 脈沖型異步時序電路
4.5.3 電平型異步時序電路
習題4
第5章 時序邏輯模塊及其應(yīng)用
5.1 移位寄存器及其應(yīng)用
5.1.1 數(shù)碼寄存器
5.1.2 移位寄存器
5.1.3 移位寄存器的應(yīng)用
5.2 計數(shù)器及其應(yīng)用；
5.2.1 2進制計數(shù)器
5.2.2 非2進制計數(shù)器
5.2.3 計數(shù)器模塊的應(yīng)用
5.3 隨機存取存儲器(RAM)
5.3.1 RAM的存儲原理
5.3.2 典型RAM模塊及其使用方法
習題5
第6章 數(shù)字電路的PLD實現(xiàn)
6.1 可編程邏輯器件PLD概述
6.1.1 可編程ASIC簡介
6.1.2 PLD的發(fā)展及分類
6.2 PLD的基本結(jié)構(gòu)
6.2.1 PLD電路的表示方法及有關(guān)符號
6.2.2 與—或陣列
6.2.3 宏單元
6.2.4 GAL器件的結(jié)構(gòu)、性能與應(yīng)用
6.3 高密度可編程邏輯器件FPGA和CPLD
6.3.1 Xilinx公司的FPGA
6.3.2 Lattice公司的CPLD
6.4 數(shù)字電路的貝刀實現(xiàn)
6.4.1 低密度可編程邏輯器件的設(shè)計實例
6.4.2 高密度可編程邏輯器件的設(shè)計實例
習題6
第7章 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計
7.1 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計概述
7.1.1 數(shù)字系統(tǒng)的基本概念
7.1.2 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計的一般過程
7.1.3 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計的常用工具
7.1.4 分組-按序算法語言
7.2 數(shù)字系統(tǒng)的實現(xiàn)方法
7.2.1 數(shù)字系統(tǒng)的總體方案與邏輯劃分
7.2.2 數(shù)據(jù)子系統(tǒng)的構(gòu)造方法
7.2.3 數(shù)字系統(tǒng)的控制算法與控制狀態(tài)圖
7.2.4 控制子系統(tǒng)的實現(xiàn)方法
7.3 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計舉例
7.3.1 8位二進制數(shù)字密碼鎖系統(tǒng)
7.3.2 十字路口交通燈控制系統(tǒng)
習題7
第8章 集成數(shù)／模和模／數(shù)轉(zhuǎn)換器及其應(yīng)用
8.1 集成數(shù)／模轉(zhuǎn)換器
8.1.1 數(shù)／模轉(zhuǎn)換的基本概念
8.1.2 常用數(shù)／模轉(zhuǎn)換技術(shù)
8.1.3 集成DAc的主要參數(shù)
8.1.4 集成DAC芯片的選擇與使用
8.2 集成模／數(shù)轉(zhuǎn)換器
8.2.1 模／數(shù)轉(zhuǎn)換的一般過程
8.2.2 常用模／數(shù)轉(zhuǎn)換技術(shù)
8.2.3 集成ABC的主要參數(shù)
8.2.4 集成ADC芯片的選擇與使用
8.3 數(shù)／模和模／數(shù)轉(zhuǎn)換器的應(yīng)用
8.3.1 數(shù)據(jù)采集與控制系統(tǒng)的功能
8.3.2 實際數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)舉例
8.3.3 計算機控制系統(tǒng)中的標準化D／A、A／D模板介紹
習題8
第9章 數(shù)字系統(tǒng)CAD與可測試性設(shè)計
9.1 數(shù)字系統(tǒng)CAD與電子設(shè)計自動化
9.1.1 數(shù)字系統(tǒng)CAD的一般概念
9.1.2 EDA技術(shù)的范疇和基本特征
9.1.3 EDA的基本工具
9.2 邏輯綜合
9.2.1 邏輯綜合的作用
9.2.2 邏輯綜合的內(nèi)容
9.2.3 邏輯綜合的基本方法
9.3 邏輯模擬
9.3.1 邏輯模擬的特點
9.3.2 邏輯模擬的模型
9.3.3 邏輯模擬的過程
9.3.4 邏輯模擬的算法
9.4 數(shù)字系統(tǒng)的可測試性設(shè)計
9.4.1 數(shù)字系統(tǒng)的測試生成
9.4.2 數(shù)字系統(tǒng)的可測試性設(shè)計
9.4.3 邊界掃描測試技術(shù)
習題9